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设V'和E'分别为无向连通图G的点割集和边割集，下面的说法中正确的是( )。
Ⅰ．G-E'的连通分支数p(G-E')=2
Ⅱ．G-V'的连通分支数p(G-V')一定等于G-E'的连通分支数p(G-E')
Ⅲ．G-V'的连通分支数p(G-V')≥2
A．Ⅰ和Ⅱ
B．Ⅰ和Ⅲ
C．Ⅱ
D．没有
参考答案
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考题
设V'和E'分别为无向连通图G的点割集和边割集，下面的说法中正确的是Ⅰ．G-E'的连通分支数p(G-E')=2。Ⅱ．G-V'的连通分支数p(G-V')一定等于G-E'的连通分支数p(G-E')。Ⅲ．G-V'的连通分支数p(G-V')≥2。A．Ⅰ和ⅡB．Ⅰ和ⅢC．ⅡD．没有
考题
设G是n个顶点的无向简单图,则下列说法不正确的是()
A、若G是树，则其边数等于n-1B、若G是欧拉图，则G中必有割边C、若G中有欧拉路，则G是连通图，且有零个或两个奇度数顶点D、若G中任意一对顶点的度数之和大于等于n-1，则G中有汉密尔顿路
考题
关于最小径集和最小割集说法正确的是()。
A、多事件的最小割集较少事件的最小割集容易发生B、最小割集越多，系统的危险性越大C、一个最小径集中所有的基本事件都不发生，顶事件仍有可能发生D、最小径集是引起顶事件发生的充分必要条件
考题
设有一个无向图G=(V，E)和G′=(V′,E′)，如果G′为G的生成树，则下面不正确的说法是(40)。A．G′为G的子图B．G′为G的极小连通子图且V′=VC．G′为G的一个无环子图D．G′为G的边通分量
考题
设无向图G=(V，E)和G′=(V′，E′)，如果G′是G的生成树，则下面的说法中错误的是()。A.G′为G的极小连通子图且V=V′
B.G′是G的一个无环子图
C.G′为G的子图
D.G′为G的连通分量
考题
设有向图G=(V，E)和G′-(V′，E′).如(G′)是G生成树，下面说法中不正确的是()A.G′为G的连通分量
B.G′为G的无环子图
C.G′为G的子图
D.G′为G的极小连通子图且V′=V
考题
设无向图G=（V，E）和G’=（V’，E’），如果G’是G的生成树，则下面的说法中错误的是（）。A、G’为G的子图B、G’为G的连通分量C、G’为G的极小连通子图且V=V’D、G’是G的一个无环子图
考题
进行FTA时，在各个底事件发生概率比较小，且相互差别不大的条件下，可按以下原则对最小割集进行比较（）A、阶数越小的最小割集越重要B、涉及底事件越多的最小割集越重要C、在低阶最小割集中出现的底事件比高阶最小割集中的底事件重要D、在最小割集阶数相同的条件下，在不同最小割集中重复出现次数越多的底事件越重要
考题
关于故障树割集的说法正确的有（）。A、割集是底事件的集合，当集合中的底事件同时发生时顶事件必然发生B、割集中的任意底事件去掉就不再成为割集，则该割集就是最小割集C、故障树分析的任务之一就是要寻找故障树的全部割集D、一般情况下阶数越小的最小割集越重要
考题
故障树定性分析内容之一是求全部最小割集。对于最小割集，以下说法错误的是（）。A、阶数越大的最小割集越重要B、在低阶最小割集中出现的底事件比高阶最小割集中的底事件重要C、在不同最小割集中重复出现次数越多的底事件越重要D、B和C都对
考题
下列关于割集和最小割集的说法，错误的是（）。A、在事故树中，把引起顶事件发生的基本事件的集合称为割集，也称截集或截止集B、凡不包含其他割集的，叫作最小割集C、一个事故树中的割集一般只有一个D、如果割集中任意去掉一个基本事件后就不是割集，那么这样的割集就是最小割集
考题
单选题关于最小径集和最小割集说法正确的是（）。A
多事件的最小割集较少事件的最小割集容易发生B
最小割集越多，系统的危险性越大C
一个最小径集中所有的基本事件都不发生，顶事件仍有可能发生D
最小径集是引起顶事件发生的充分必要条件
考题
单选题设无向图G=（V，E）和G’=（V’，E’），如果G’是G的生成树，则下面的说法中错误的是（）。A
G’为G的子图B
G’为G的连通分量C
G’为G的极小连通子图且V=V’D
G’是G的一个无环子图
考题
单选题下列关于割集和最小割集的说法，错误的是（）。A
在事故树中，把引起顶事件发生的基本事件的集合称为割集，也称截集或截止集B
凡不包含其他割集的，叫作最小割集C
一个事故树中的割集一般只有一个D
如果割集中任意去掉一个基本事件后就不是割集，那么这样的割集就是最小割集
考题
多选题进行FTA时，在各个底事件发生概率比较小，且相互差别不大的条件下，可按以下原则对最小割集进行比较（）A阶数越小的最小割集越重要B涉及底事件越多的最小割集越重要C在低阶最小割集中出现的底事件比高阶最小割集中的底事件重要D在最小割集阶数相同的条件下，在不同最小割集中重复出现次数越多的底事件越重要
考题
判断题互在任一图G中，当点集V确定后，树图是G中边数最少的连通图。A
对B
错
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