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关于过程处于统计控制状态时的表现，正确的有（ ）。
A.产品全部合格
B.过程中只有偶因而无异因产生的变异
C.过程中只有异因而无偶因产生的变异
D.既有异因亦有偶因产生的变异
E.点子落在控制图上控制限外的概率很小
A.产品全部合格
B.过程中只有偶因而无异因产生的变异
C.过程中只有异因而无偶因产生的变异
D.既有异因亦有偶因产生的变异
E.点子落在控制图上控制限外的概率很小
参考答案
参考解析
解析：。统计控制状态是指过程中只存在偶因而无异因的状态，因此选项B、C, D中选项B正确。当过程处于统计控制状态时，过程的波动具有统计规律性，此时控制图上用于监控的质量特性值应在控制限内随机波动，落在控制限外的概率很小，所以选项E正确。
更多 “关于过程处于统计控制状态时的表现，正确的有（ ）。 A.产品全部合格 B.过程中只有偶因而无异因产生的变异 C.过程中只有异因而无偶因产生的变异 D.既有异因亦有偶因产生的变异 E.点子落在控制图上控制限外的概率很小” 相关考题
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
关于统计过程控制的说法，正确的有（ ）。A.统计过程控制是一种过程质量管理技术B.统计过程控制是指利用控制图对过程进行实时监控，使过程稳定地处于可接受的水平C.统计过程控制是一种事后补救的方法D.统计过程控制所使用的主要工具是控制图E.统计过程控制的主要目的是确定是否生产出不合格品
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为( )。A.6.8%B.3.4%S
当过程处于统计控制状态时，X控制图的点子落在控制界限外的概率为（ ）。A.6.8％B.3.4％C.0.27％D.0.135％
考题
关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说，Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
考题
控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示，正确的有（ ）。A.过程未处于统计控制状态B.过程的均值有减小的趋势C.过程的标准差有增大的趋势D.过程的不合格品率肯定会减小E.过程偏离分布中心的程度减小
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
工作人员收集了手表厂螺栓扭矩去年全年的监测数据，计算得样本标准差为5。工艺要求螺栓扭矩的规范上限是180，规范下限是140，则关于该过程的说法，正确的是（ ）。
A.过程能力指数为1. 33 B.过程性能指数为1. 33
C.过程处于统计控制状态 D.过程未处于统计控制状态
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种（）的控制线延长能作为控制用的控制图。A
状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B
状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C
状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D
状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
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