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单选题
从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。
A

过程处于统计控制状态

B

具有足够的生产能力

C

过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

D

过程处于统计控制状态但过程能力不足


参考答案

参考解析
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考题 过程能力指数Cp小于1.0表示( )。A.过程能力不足B.应该进过程C.应减少过程输出特性的表差D.过程未处于统计控制状态E.理论小过程中心和技术中心的偏移量

考题 根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

考题 关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。 A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进 D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

考题 绘制分析用控制图阶段的主要工作有( )。 A.分析过程是否处于统计控制状态 B.分析过程是否存在偶然波动 C.实时分析数据,监控过程长期运行状态 D.分析过程的过程能力指数是否满足要求 E.分析过程合格率低的原因

考题 加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。 下列推断中,正确的是( )。 A.过程处于统计控制状态和技术控制状态 B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态 C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 关于过程状态的说法,正确的有( )。 A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小 B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变 C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

考题 A.过程能力不足 B.应改进过程 C应减小过程输出特性的标准差 D.过程未处于统计控制状态 E.应减小过程中心和技术中心的偏移量

考题 从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。 A.过程处于统计控制状态 B.具有足够的生产能力 C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力 D.过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 关于统计控制状态的说法,正确的有( )。 A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内 B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布 C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态 D.统计控制状态是指过程能力充足的状态 E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

考题 使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。 A.需要重新计算控制限 B.该子组中一定有不合格品 C.可判定过程处于统计失控状态 D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设

考题 过程改进策略包括( )两个环节。 A.判断过程是否处于统计控制状态 B.评价过程能力 C.判断过程是否处于异常状态 D.判断过程的离散程度 E.质量改进

考题 将控制限作为控制标准进行日常控制,必须满足的条件有()。 A.过程处于统计控制状态 B.过程能力指数满足要求 C.过程存在异常因素 D.过程能力尚未充足 E.控制限与公差限不一致

考题 关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。 A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品 B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1 C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态 D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动 E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的

考题 关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。 A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态 B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态 C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态 D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

考题 加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。 根据上述计算结果,判断过程()。 A.处于统计控制状态和技术控制状态 B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态 C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 过程改进策略包括()两个环节。A、判断过程是否处于统计控制状态B、评价过程能力C、判断过程是否处于异常状态D、判断过程的离散程度E、质量改进

考题 以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

考题 作为分析用控制图,主要分析的内容包括()A、分析生产过程是否处于统计控制状态B、分析该过程的过程能力指数是否满足要求C、计算过程的不合格品率D、计算过程的偏移系数

考题 过程改进策略包括()两个环节。A、判断过程是否处于统计控制状态B、评价过程能力C、判断过程是否处于异常状态D、判断过程的离散程度

考题 从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 控制图是对过程值()进行测定、记录、评估和监察过程是否处于统计控制状态的一种用统计方法设计的图。

考题 多选题过程改进策略包括()两个环节。A判断过程是否处于统计控制状态B评价过程能力C判断过程是否处于异常状态D判断过程的离散程度E质量改进

考题 单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A 过程处于统计控制状态B 具有足够的生产能力C 过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D 过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A 过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B 过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C 过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D 过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

考题 单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A 过程处于统计控制状态和技术控制状态B 过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C 过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D 过程未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 多选题控制图上点出界,则表明(  )。[2007年真题]A过程处于技术控制状态B过程可能存在异常因素C小概率事件发生D过程稳定性较好E过程未处于统计控制状态