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21、由于蒸馏水或试剂中含有微量被测定的离子而造成系统误差,消除该系统误差通常采用的方法是()

A.对照实验

B.空白试验

C.校准仪器

D.校正方法


参考答案和解析
空白试验
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考题 空白试验可消除()引起的系统误差。 A、试剂不纯B、蒸馏水不纯C、所用器皿被玷污D、分析仪器不准

考题 若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生 :() A.过失误差;B.系统误差;C.仪器误差;D.偶然误差

考题 若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。 A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差

考题 由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差,可通过空白试验来消除此题为判断题(对,错)。

考题 在滴定分析中,()可导致系统误差。A.试剂未充分混匀B.滴定终点判断不准C.试剂中含有微量干扰离子D.平行试验次数不够

考题 由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差,可通过空白试验来消除。A对B错

考题 造成系统误差有各方面的原因,通常根据具体情况采用不同的方法来检验和消除系统误差,常采用的方法有哪些?

考题 试剂中含有微量被测组分所引起的误差属()。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差

考题 试剂中含有微量被测组份所引起的误差属于()。A、偶然误差B、相对偏差C、系统误差D、绝对误差

考题 试剂中含有微量被测组分,未经抵消校正所引起的误差是()A、偶然误差B、系统误差C、过失误差

考题 试剂中含有微量被测组分,未经抵消校正所引起误差是()A、偶然误差B、系统误差C、过失误差

考题 在分析测定中,下面情况哪些是属于系统误差() ①天平的两臂不等长; ②滴定管的读数看错; ③试剂中含有微量的被测组分; ④在沉淀重量法中,沉淀不完全。A、①②;B、①③;C、②③;D、①③④。

考题 当试剂中含有微量被测组份时,将引起什么误差()。A、系统误差B、偶然误差C、过失误差

考题 由于蒸馏水不纯引起的系统误差属于试剂误差,可用空白实验来校正。

考题 试剂中含有微量被测组分,未做空白校正所引起的误差是()A、偶然误差B、系统误差C、绝对误差

考题 空白试剂是用来消除由()和()带进杂质所造成的系统误差。

考题 空白试验可消除()引起的系统误差。A、试剂不纯B、蒸馏水不纯C、所用器皿被玷污D、分析仪器不准确

考题 在滴定分析中,出现()的情况可导致系统误差。A、滴定管读数不准B、试剂未充分混匀C、试剂中含有微量被测组分D、滴定管漏液

考题 在滴定分析中,()可导致系统误差。A、试样未充分混匀B、滴定终点判断不准确C、试剂中含有微量干扰离子D、平行试验次数不够

考题 系统误差是由某种固定的原因所造成的,往往使测定结果系统偏高或偏低。因此系统误差可以通过校正的方法予以减小或消除。

考题 由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器

考题 由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差,可通过空白试验来消除。

考题 人们通常采用的消除误差的方法是用来消除系统误差。

考题 若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生()A、过失误差;B、系统误差;C、仪器误差;D、偶然误差

考题 指出下列情况中哪个是系统误差。()A、砝码未经校正B、试样未经充分混匀C、滴定时操作者无意中从锥型瓶中溅失少许试液D、蒸馏水中含有微量干扰测定的离子

考题 判断题由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差,可通过空白试验来消除。A 对B 错

考题 多选题若对照实验说明有系统误差存在,则应设法找出产生系统误差的原因,并加以消除。通常消除化学分析过程中系统误差的方法有()A做空白实验消除试剂、蒸馏水及器皿引入的杂质所造成的系统误差B校准仪器以消除仪器不准所引起的系统误差C引用其它分析方法作校正D做加标回收试验

考题 单选题若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生()A 过失误差;B 系统误差;C 仪器误差;D 偶然误差