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光谱仪测得的谱线强度和那些因素有关?


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考题 下列仪器中采用吸收光谱分析的有A、751型分光光度计B、红外光谱仪C、摄谱仪D、全谱直读光谱仪E、荧光光谱仪

考题 信息获取的主要传感器有:广谱仪,红外多波段光谱仪,合成孔径雷达以及其它传感器,尤其是1m分辨率的广谱仪和多波段光谱仪。()

考题 原子吸收光谱仪的空心阴极灯发射出一定强度和一定波长的供待测元素吸收的特征谱线,由原子化器将待测元素原子化,并吸收光源中的部分特征谱线,由分光系统和检测系统完成待测元素吸光度的测定。() 此题为判断题(对,错)。

考题 在光源作用下,使材料中的元素被激发,不同元素发射不同特征的光,根据记录的系列谱线的波长和强度,对照谱线表确定材料中所含元素及其含量的仪器称为()A、红外线仪B、波谱仪C、能谱仪D、光谱仪

考题 X射线透过滤线板后()A、强度增加,谱线范围变窄;B、能量增加,谱线范围变宽;C、射线变硬,谱线范围变宽;D、射线变硬,谱线范围变窄;E、射线变软,谱线范围变窄;

考题 X射线荧光光谱仪由光源、()、()和谱仪控制与数据处理系统组成。

考题 若所需谱线范围在2000~3600Å区域内,应选什么类型的光谱仪及用什么材料制作棱镜和透镜?

考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

考题 波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大,测得的准确度也较高,而L和M谱线系的相对强度变化较小。

考题 影响X射线强度的主要因素有基体效应、不均匀效应和谱线干扰。

考题 影响谱线强度的内因是(),外因是()。

考题 特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 在原子吸收光谱法中,用氘灯扣除背景是基于()A、待测元素的谱线可以吸收氘灯的辐射强度B、待测元素的谱线不吸收氘灯的辐射强度C、待测元素的谱线对氘灯的辐射强度吸收很少可以忽略不计D、待测元素谱线的吸收随氘灯的辐射强度增强而增大

考题 在原子发射光谱中谱线的强度与下列哪个因素有关?()A、样品的组成B、观测方向C、光源的温度D、元素及谱线的性质

考题 为什么元素的Ka1谱线强度比Ka2谱线的强度要大一倍?

考题 谱线的强度和黑度

考题 光谱定量分析确定元素含量的根据是()A、特征谱线B、灵敏线C、最后线D、元素的谱线强度

考题 原子发射光谱仪中,定性分析方法通常用标准光谱比较法,其中用()为标尺。A、铁谱B、氢谱C、钠谱D、钾谱

考题 谱线强度与下列哪些因素有关:()。 ①激发电位与电离电位; ②跃迁几率与统计权重; ③激发温度; ④试样中元素浓度; ⑤电离度; ⑥自发发射谱线的频率A、①,②,③,④B、①,②,③,④,⑤C、①,②,③,④,⑥D、①,②,③,④,⑤,⑥

考题 X射线通过滤线板后:()  A、强度增加,谱线范围变窄;B、能量增加,谱线范围变宽;C、射线变硬,谱线范围变宽;D、射线变硬,谱线范围变窄。

考题 在ICP发射光谱分析中,影响谱线强度的因素主要有哪些?

考题 在罗马金公式I=acb中,b表示与谱线自吸有关的常数。当b=()时,表示此时谱线强度与元素含量无关,当b=()时,表明谱线无自吸,此时谱线强度与元素含量呈线性关系。

考题 单选题谱线强度与下列哪些因素有关:()。 ①激发电位与电离电位; ②跃迁几率与统计权重; ③激发温度; ④试样中元素浓度; ⑤电离度; ⑥自发发射谱线的频率A ①,②,③,④B ①,②,③,④,⑤C ①,②,③,④,⑥D ①,②,③,④,⑤,⑥

考题 名词解释题谱线的强度和黑度

考题 问答题什么叫介质强度恢复过程?什么叫电压恢复过程?它与那些因素有关?

考题 问答题在ICP发射光谱分析中,影响谱线强度的因素主要有哪些?

考题 问答题为什么元素的Ka1谱线强度比Ka2谱线的强度要大一倍?