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波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大,测得的准确度也较高,而L和M谱线系的相对强度变化较小。


参考答案

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考题 每种元素的特征X射线,包含一系列波长确定的谱线,且其强度比也是确定的,当Kα线强度为5kcps时,Kβ线的强度约为()。A、2kcpsB、1kcpsC、5kcpsD、4kcps

考题 在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

考题 X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()A、全谱段波长B、0.001~10nmC、0.01~120nmD、0.1~800nm

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

考题 色散型X射线荧光光谱仪分为()。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型

考题 X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

考题 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合

考题 X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对

考题 X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。

考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

考题 X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

考题 X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

考题 X射线荧光的波长轻元素的波长较短,重元素的波长较长。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

考题 用一般光学分光仪不能获得X射线谱的原因是:()A、X射线是不可见光B、X射线强度太大C、X,射线波长秀短,在介质中几乎不发生色散D、X射线有荧光效应

考题 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用()控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度

考题 问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长?

考题 单选题连续X射线光谱又称白色射线,它由某一短波限λo开始直到波长等于无穷大λ∞的一系列波长组成。下列对连续X射线的规律和特点描述正确的是()A 当增加X射线管压时,各种波长射线的相对强度一致增高,最大强度波长λm和短波限λo变小B 当管压保持恒定,增加管流时,各种波长的X射线相对强度一致增高,但λm和λo数值大小不变C 当改变阳极靶元素时,各种波长的相对强度随靶元素的原子序数增加D 以上都对

考题 填空题X射线连续谱图形变化规律中,当管压增高。连续谱各波长的相对强度相应(),且()都向短波方向移动。随管电流.管电压的改变,特征X射线谱的谱线只改变()而特征X射线的波长取决于阳极靶的元素的(),每个特征谱线都对应一个特定的()。