考题
相关显示是重复性迹痕显示，而非相关显示不是重复性迹痕显示。
考题
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
JB/T4730-2005标准规定：显示分为相关显示，非相关显示和虚假显示，小于0.5mm的显示不计，其它任何显示均应记录和评定。
考题
磁粉检测中，伪显示和非相关显示的意义是相同的。（）
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是
考题
关于磁痕显示的叙述，正确的是（）A、非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B、表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C、近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D、以上都不对
考题
JB3965-85中规定，磁痕线性显示是指长度大于宽度的两倍
考题
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
相关显示与非相关显示是由漏磁场形成的磁痕显示，而伪显示不是由漏磁场形成的磁痕显示。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
考题
显示分为相关显示、非相关显示和虚假显示，非相关显示和虚假显示不必记录和评定。
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
考题
判断题相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示。A
对B
错
考题
填空题磁粉探伤时磁痕显示分为（）、（）和（）三种。
考题
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
判断题JB/T4730-2005标准规定：显示分为相关显示，非相关显示和虚假显示，小于0.5mm的显示不计，其它任何显示均应记录和评定。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
单选题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A
相关显示B
非相关显示C
伪显示D
以上都是
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
考题
判断题相关显示与非相关显示是由漏磁场形成的磁痕显示，而伪显示不是由漏磁场形成的磁痕显示。A
对B
错
考题
判断题显示分为相关显示、非相关显示和虚假显示，非相关显示和虚假显示不必记录和评定。A
对B
错
考题
单选题关于显示说法正确的是（）。A
表面没有缺陷处看到的磁痕肯定是伪显示B
相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，影响工件的使用性能C
非相关显示不是由漏磁场产生的，影响工件的使用性能D
伪显示不是由漏磁场产生的，影响工件的使用性能