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请阐明X射线荧光光谱用作元素定性分析和定量分析的基本原理。

参考答案和解析
A
更多 “请阐明X射线荧光光谱用作元素定性分析和定量分析的基本原理。” 相关考题
考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
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考题 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
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考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式，是检测镀层元素含量的。
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考题 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
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考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有（）。A、硫B、钡C、锂D、铝
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
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考题 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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考题 X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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考题 X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。
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考题 简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 试从能级跃迁机理比较原子发射光谱、原子荧光光谱和X-射线荧光光谱的异同。
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考题 为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性？
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考题 判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A 对B 错
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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考题 问答题为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性？
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考题 问答题简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。
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