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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

  • A、定性分析
  • B、定量分析
  • C、都不是

参考答案

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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
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考题 X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
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考题 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
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考题 用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长。
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考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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考题 简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
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考题 以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
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考题 在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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考题 X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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考题 X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
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考题 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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