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以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）

  • A、探测范围大
  • B、盲区小
  • C、工件中近场长度小
  • D、杂波少

参考答案

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考题 双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
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考题 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少
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考题 以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（）A、工作频率B、晶片尺寸C、探测深度D、近场长度
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考题 以下叙述中，哪一条不是聚焦探头的缺点（）A、声束细，每次扫查探测区域小，频率低B、每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷，通用性差C、由于声波的干涉作用和声透镜的球差，声束不能完全汇聚一点D、以上都是
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考题 可用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标是（）A、水平线性、垂直线性、动态范围B、频带宽度、探测深度、重复频率C、灵敏度余量、盲区、分辨力D、入射点、近场长度、扩散角
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考题 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）。A、检测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波小
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考题 以下哪一条不属于双晶探头的主要参数？（）A、近场长度B、频率C、晶片尺寸D、声束交区范围
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考题 探头晶片尺寸大时，近场的覆盖范围也大，晶片小时，近场的覆盖范围也小。但在远场处由于指向性的关系，大尺寸晶片的覆盖范围有可能小于尺寸晶片。
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考题 在毛面工件上使用软保护膜探头的优点是（）。A、 声藕合稳定B、 杂波小C、 扫查方便D、 分辨力高
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考题 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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考题 近场长度的计算公式是（）；2.5MHzφ20mm的直探头探测钢近场长度为（）mm。
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考题 双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
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考题 双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
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考题 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
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考题 填空题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
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考题 单选题以下哪一条不属于双晶探头的主要参数？（）A 近场长度B 频率C 晶片尺寸D 声束交区范围
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考题 单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形
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考题 判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A 对B 错
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考题 填空题双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 单选题以下叙述中，哪一条不是聚焦探头的缺点（）A 声束细，每次扫查探测区域小，频率低B 每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷，通用性差C 由于声波的干涉作用和声透镜的球差，声束不能完全汇聚一点D 以上都是
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考题 单选题以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）。A 检测范围大B 盲区小C 工件中近场长度小D 杂波小
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考题 单选题以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）A 探测范围大B 盲区小C 工件中近场长度小D 杂波少
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考题 单选题在毛面工件上使用软保护膜探头的优点是（）。A 声藕合稳定B 杂波小C 扫查方便D 分辨力高
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考题 判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A 对B 错
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考题 单选题以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（）A 工作频率B 晶片尺寸C 探测深度D 近场长度
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考题 问答题在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
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