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单选题
双晶探头用于探测工件()缺陷。
A

近表面

B

表面

C

内部

D

平面形


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 直探头主要用于探测()的缺陷。

考题 纵波双晶直探头检测工件时,对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。

考题 双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。

考题 在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

考题 双晶直探头的最主要用途是()。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测

考题 以下哪一条,不属于双晶探头的优点()A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少

考题 频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

考题 表面波探头用于探测工件表面缺陷。

考题 表面波探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

考题 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

考题 双晶联合探头,由于盲区较小,因此有利于发现()缺陷的探测。

考题 双晶探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

考题 频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

考题 表面波探头用于探测工件()。

考题 双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。

考题 单选题双晶直探头的最主要用途是()。A 探测近表面缺陷B 精确测定缺陷长度C 精确测定缺陷高度D 用于表面缺陷检测

考题 问答题在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

考题 判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。A 对B 错

考题 填空题表面波探头用于探测工件()。

考题 判断题双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。A 对B 错

考题 填空题双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。

考题 判断题纵波双晶直探头检测工件时,对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。A 对B 错

考题 单选题以下哪一条,不属于双晶探头的优点()A 探测范围大B 盲区小C 工件中近场长度小D 杂波少

考题 判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A 对B 错

考题 填空题双晶联合探头,由于盲区较小,因此有利于发现()缺陷的探测。

考题 单选题双晶探头用于探测工件()缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形

考题 判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A 对B 错

考题 单选题表面波探头用于探测工件()缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形