考题
JB/T4730-2005标准将长宽比小于或等于3的缺陷定义为 圆形缺陷。此题为判断题(对，错)。
考题
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测的工件表面不得有油脂、铁锈、氧化皮或其它粘附磁粉的物质。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：承压设备焊缝及其坡口表面磁粉检测时不允许横向缺陷存在。
考题
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。
考题
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：非荧光磁粉检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000Lx。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定对在用承压设备的磁粉检测有何要求？
考题
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
考题
长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕，长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：承压设备焊缝及其坡口表面磁粉检测时不允许横向缺陷存在。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A
对B
错
考题
判断题长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕，长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。A
对B
错