考题
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
考题
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
考题
按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
考题
JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A
对B
错
考题
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A
对B
错
考题
单选题按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A
照相B
录像C
可剥性塑料薄膜D
以上全是
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁悬液的施加可采用喷、浇、浸、刷涂等方法。无论用哪种方法，均不应使检测面上磁悬液的流速过快。A
对B
错