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X射线波长色散是建立在()基础上的。

  • A、波动性
  • B、粒子性
  • C、反射
  • D、透射

参考答案

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考题 电磁波长不同,其波动性和粒子性所表现的程度不同,波长愈长,辐射的粒子性越明显;波长愈短,辐射波动特性愈明显。()

考题 波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和()元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散

考题 在辐射防护中,有四种辐射是我们所关心的,它们是()。A、α粒子、β粒子、γ(X)射线和中子B、α粒子、β粒子、γ(X)射线和电磁波C、电磁波、β粒子、γ(X)射线和中子D、α粒子、电磁波、γ(X)射线和中子

考题 下列辐射射线中,电离破坏性最大的是:()A、X射线和射线;B、粒子;C、粒子;D、中子。

考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 色散型X射线荧光光谱仪分为()。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为()。A、2年B、1年C、6个月

考题 关于光的量子学说说法不合适的是()。A、频率越高、波长越短、能量越大的光子其粒子性越强B、波长越长、能量越小的光子其波动性越差C、量子学说将光的波动性与粒子性联系起来D、光具有波粒二象性

考题 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合

考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

考题 X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

考题 X射线波长色散和能量色散是建立在()和()基础上的。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

考题 按粒子性的显著程度来说,γ射线比X射线的粒子性(),按波动性的显著程度来说,紫光比红光的波动性()

考题 波粒二象性程度与电磁波的波长有关,波长越短,辐射的()性质越明显。A、粒子性B、波动性C、粒子性和波动性D、不确定

考题 用一般光学分光仪不能获得X射线谱的原因是:()A、X射线是不可见光B、X射线强度太大C、X,射线波长秀短,在介质中几乎不发生色散D、X射线有荧光效应

考题 用X射线透射板件,选用管电压越(),则射线波长越()。

考题 单选题波粒二象性程度与电磁波的波长有关,波长越短,辐射的()性质越明显。A 粒子性B 波动性C 粒子性和波动性D 不确定

考题 填空题按粒子性的显著程度来说,γ射线比X射线的粒子性(),按波动性的显著程度来说,紫光比红光的波动性()

考题 填空题用X射线透射板件,选用管电压越(),则射线波长越()。