考题
γ射线晶体闪烁计数器的主要部件为A、NaI闪烁晶体B、光电倍增管C、激发光源D、计数器E、废液收集器
考题
不适合用于瞬发辐射场的探测器是()。
A、电离室B、闪烁体探测器C、热释光探测器D、计数器型探测器
考题
放射免疫测量仪中用于探测γ射线使用的是 ( )A、井型晶体计数器B、液体闪烁计数器C、放射性活度测量仪D、X射线探测器E、电离探测器
考题
中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器
中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器D.CaS02热释光剂量元件E.a径迹(片)
考题
圆柱形电离室保护电极的作用不包括（）A、减小电离室的漏电流B、截断漏电流，并将其导向地面C、确保电离室灵敏体积内电场具有良好的均匀性D、收集电离电荷E、有助于准确地收集电离电荷量
考题
近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是（）A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器
考题
高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
使用中子探测设备的是（）A、波恩球，长计数器B、三氟化硼计数器C、电离室探测器D、盖格计数器E、胶片
考题
灵敏度最低的是（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
工业核仪表常用射线探测器有（）A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管
考题
密封放射检测源是否泄漏或被污染，通常使用的探测器是（）A、指型电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A、指形电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器
考题
X荧光仪中探测器通常采用（）A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体
考题
X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅（锂）探测器
考题
在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器
考题
工业核仪表中常用的射线探测器有（）。A、闪烁探测器B、霍尔探测器C、光电倍增管D、电离室探测器
考题
工业核仪表常用的射线探测器不包括下列哪类仪表（）。A、闪烁探测器B、电离室探测器C、光电隔离器
考题
土壤中氡气的浓度可采用（）等方法进行测量。A、电离室法B、静电收集法C、闪烁瓶法D、金硅面垒型探测器E、环境测试仓法
考题
工业核仪表常用射线探测器有（）A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管D、烟雾探测器
考题
单选题以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A
电离室B
正比计数器C
盖革-弥勒记数管D
闪烁探测器
考题
单选题密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A
指形电离室B
半导体探测器C
中子探测器D
闪烁计数器E
正比计数器
考题
单选题放射免疫测量仪中用于探测γ射线使用的是（）。A
井型晶体计数器B
液体闪烁计数器C
放射性活度测量仪D
X射线探测器E
电离探测器
考题
多选题土壤中氡气的浓度可采用（）等方法进行测量。A电离室法B静电收集法C闪烁瓶法D金硅面垒型探测器E环境测试仓法
考题
问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。
考题
单选题以气体电离为基础制造的计数器是（）A
正比计数器B
盖革计数器C
闪烁计数器D
A和B