考题
不适合用于瞬发辐射场的探测器是()。
A、电离室B、闪烁体探测器C、热释光探测器D、计数器型探测器
考题
放射免疫测量仪中用于探测γ射线使用的是 ( )A、井型晶体计数器B、液体闪烁计数器C、放射性活度测量仪D、X射线探测器E、电离探测器
考题
近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是（）A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器
考题
高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
灵敏度最低的是（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器
考题
正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。
考题
密封放射检测源是否泄漏或被污染，通常使用的探测器是（）A、指型电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
不能用于测量电子束中心轴PDD的是（）A、盖格计数器B、指形电离室C、平行板电离室D、半导体探头E、胶片
考题
关于场所剂量仪的叙述，正确的是（）A、工作在电流模式下的电离室适合高剂量率测量B、正比计数器比电离室具有更高的灵敏度C、中子测量仪中热中子和lOD、GM计数器广泛应用于极低辐射水平的测量E、GM计数器对高能光子表现出很强的能量依赖性
考题
密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A、指形电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
辐射防护探测时使用盖格计数器的目的是（）A、探测中子B、探测电子C、大致确定能量D、准确测定剂量E、快速定位泄漏位置
考题
下列哪种辐射测量仪器的工作机理不是气体检测机理（）A、比例计数器B、半导体检测器C、电离室D、盖格-缪勒计数器
考题
以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器
考题
X荧光仪中探测器通常采用（）A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体
考题
X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅（锂）探测器
考题
在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器
考题
盖格计数器探测射线依据的是（）A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应
考题
单选题以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A
电离室B
正比计数器C
盖革-弥勒记数管D
闪烁探测器
考题
单选题密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A
指形电离室B
半导体探测器C
中子探测器D
闪烁计数器E
正比计数器
考题
单选题放射免疫测量仪中用于探测γ射线使用的是（）。A
井型晶体计数器B
液体闪烁计数器C
放射性活度测量仪D
X射线探测器E
电离探测器
考题
单选题不能用于测量电子束中心轴PDD的是（）A
盖格计数器B
指形电离室C
平行板电离室D
半导体探头E
胶片
考题
单选题盖格计数器探测射线的依据是（ ）。A
康普顿散射B
电离作用C
感光效应D
荧光现象E
光电效应
考题
单选题下列哪种辐射测量仪器的工作机理不是气体检测机理（）A
比例计数器B
半导体检测器C
电离室D
盖格-缪勒计数器
考题
问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。