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腐蚀时量测频率的操作方法是:()

  • A、在热水槽中取出腐蚀篮,用塑料镊子夹取少数晶片到抹布上
  • B、擦干晶片,在测频仪上量测晶片频率
  • C、夹取晶片时动作轻重都可
  • D、量测前不用校对频率标晶

参考答案

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考题 超声波的频率取决于晶片的振动频率,()。 A、频率越高晶片越厚B、频率越高晶片越薄C、频率越低晶片越薄D、频率越低晶片越小

考题 必测项目量测频率一般根据测点距开挖面的距离及位移速度分别确定,然后取两者中的频次较低者作为实际量测频率。( )

考题 某隧道拱顶下沉用水平仪量测,水平仪的前视标尺为吊挂在拱顶测点上的钢尺,后视标尺为固定在衬砌上的标杆。初次观测读数:前视1120mm,后视1080mm;二次观测读数:前视1100mm,后视1070mm。试根据上述结果回答下列问题。(5)隧道拱顶下沉量测的要求是( )。A.拱顶下沉量测断面间距、量测频率、初读数的测取等同收敛量测 B.每个断面布置1个测点,测点设在拱顶中心或其附近 C.量测时间应延续到拱顶下沉稳定后 D.用水准仪量测精度为±0.1mm

考题 波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随()A、频率增加,晶片直径减小而减小B、频率或晶片直径减小而增大C、频率或晶片直径减小而减小D、频率增加,晶片直径减小而增大

考题 晶片厚度与晶片的频率密切相关,晶片厚度越厚,频率越低。

考题 关于腐蚀倒片的说法,正确的是:()A、将每个保鲜盒内待腐蚀的晶片分在6个黑色腐蚀篮内,并盖上专用的清洗筐盖子B、分选后的晶片倒片要按频率档分类标识腐蚀。C、确保打孔烧杯的晶片完全倒入腐蚀篮内,预防少片D、每个烧杯的晶片数量是5000片

考题 画轴测图时,物体上所有线段的尺寸都可以直接量取。

考题 半扩散角是晶片尺寸和声波波长的函数,它()。A、随频率增加、晶片尺寸减小而减小B、随频率或晶片尺寸减小而增大C、随频率或晶片尺寸减小而减小D、频率增加、晶片尺寸减小而增大

考题 腐蚀倒片前作业员必须确认频率标签的烧杯编号与所取烧杯一致,不可随意取烧杯内的晶片进行腐蚀。

考题 腐蚀前必须将热水槽边的开关打开,腐蚀前必须晃动腐蚀篮,将腐蚀篮中晶片散开。

考题 腐蚀前的来料检查,正确的说法是:()A、腐前必须先抽腐500片到1000片晶片,然后送外观检验,合格后方可腐蚀,玻璃条否全部挑出B、抽测晶片来料频率,并在腐前电子档里记录频率数据C、晶片表面干净与否将直接影响晶片腐蚀后的外观D、测试腐蚀前频率是为了准确的计算腐蚀时间并检查频散情况

考题 通常情况下,必测项目量测频率根据测点距开挖面的距离在一倍隧道洞径以内,一天量测()次,距离在一到两倍隧道洞径之间,一天量测()次。

考题 电子数字式频率计的测频误差为本机晶振频率稳定度±1个数字。

考题 用扫频仪测某一被测网络增益时,在获得屏幕上曲线高度及扫频仪的“输出衰减”量后,仍可调节“Y轴增益”旋钮。

考题 瞬时测频接收机采用变换域测频技术,其实质是:()。A、频率-相位变换,通过测相测频B、频率-时间变换,通过测时测频C、频率-空间角度变换,通过测角测频D、频率-幅度变换,测幅测频

考题 波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数,并且()。A、频率或晶片直径减少时增大B、频率或晶片直径减少时减少C、频率增加而晶片直径减少时减少D、频率或晶片直径增大时增大

考题 波束扩散角是晶体的尺寸和在所通过的介质中声波波长的函数,并且()。A、频率不变时晶片直径减小时增大B、频率不变时晶片直径减小时减小C、频率增加而晶片直径减小时增大D、频率增加而晶片直径减小时减小

考题 压缩接收机采用变换域测频技术,其实质是:()。A、频率-相位变换,通过测相完成测频B、频率-时间变换,通过测时完成测频C、频率-空间角度变换,通过测角完成测频D、频率-幅度变换,通过幅测完成测频

考题 当被测频率大于中界频率时,宜选用测周的方法;当被测频率小于中界频率时,宜选用测频的方法。

考题 单选题半扩散角是晶片尺寸和声波波长的函数,它()。A 随频率增加、晶片尺寸减小而减小B 随频率或晶片尺寸减小而增大C 随频率或晶片尺寸减小而减小D 频率增加、晶片尺寸减小而增大

考题 单选题瞬时测频接收机采用变换域测频技术,其实质是:()。A 频率-相位变换,通过测相测频B 频率-时间变换,通过测时测频C 频率-空间角度变换,通过测角测频D 频率-幅度变换,测幅测频

考题 单选题波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随()A 频率增加,晶片直径减小而减小B 频率或晶片直径减小而增大C 频率或晶片直径减小而减小D 频率增加,晶片直径减小而增大

考题 判断题当被测频率大于中界频率时,宜选用测周的方法;当被测频率小于中界频率时,宜选用测频的方法。A 对B 错

考题 单选题压缩接收机采用变换域测频技术,其实质是:()。A 频率-相位变换,通过测相完成测频B 频率-时间变换,通过测时完成测频C 频率-空间角度变换,通过测角完成测频D 频率-幅度变换,通过幅测完成测频

考题 单选题波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数,并且()。A 频率或晶片直径减少时增大B 频率或晶片直径减少时减少C 频率增加而晶片直径减少时减少D 频率或晶片直径增大时增大

考题 单选题波束扩散角是晶体的尺寸和在所通过的介质中声波波长的函数,并且()。A 频率不变时晶片直径减小时增大B 频率不变时晶片直径减小时减小C 频率增加而晶片直径减小时增大D 频率增加而晶片直径减小时减小

考题 填空题通常情况下,必测项目量测频率根据测点距开挖面的距离在一倍隧道洞径以内,一天量测()次,距离在一到两倍隧道洞径之间,一天量测()次。