X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。

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考题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

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考题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。

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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

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考题简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？

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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性

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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化

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考题在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

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考题 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

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考题 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。

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考题以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置

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考题 X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法

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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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考题波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

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考题简述X射线荧光光谱分析的优点。

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考题 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

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考题在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

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考题在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于

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考题影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。

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考题 X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。

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考题简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？

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考题 X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。

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考题波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

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考题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大

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考题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？

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考题多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN

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