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X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。

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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
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考题 影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
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考题 简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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考题 X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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考题 X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。A、相对B、绝对C、物理D、化学
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 当对技术要求严格或者对结果有争议时，一般采取以下哪种材质分析方法进行检验（）A、化学分析法B、X射线荧光分析法C、发射光谱法D、原子吸收光谱法
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考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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考题 X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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考题 X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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考题 X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
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考题 X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化
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考题 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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考题 X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
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考题 用原子吸收光谱法测定样品中的金属离子一般选用待测元素的（）作为分析线。A、发射线B、灵敏线C、共振线D、入射线
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考题 单选题用原子吸收光谱法测定样品中的金属离子一般选用待测元素的（）作为分析线。A 发射线B 灵敏线C 共振线D 入射线
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