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在偏光显微镜法测高聚物的熔点时,所做的试样片的厚度为()。
- A、1~5cm
- B、1~5mm
- C、0.1~0.5mm
- D、0.01~0.05mm
参考答案
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考题
在用偏光显微镜法测高聚物的熔点时,对于某些材料,在加热过程中空气能引起氧化、降解,从而造成无法观察到双折射现象,对于这类试样,需用惰性气体对其进行保护,一般用()。A、氮气B、氢气C、氨气D、氩
考题
晶态高聚物与小分子晶体的溶解过程的区别,下列说法中正确的是()。A、结晶高聚物的熔融过程是折线,小分子晶体的熔融过程是渐近线。B、结晶高聚物的熔点无记忆性,小分子晶体的熔点由记忆性。C、结晶高聚物的熔点温度范围窄,小分子晶体的熔点温度范围宽。D、结晶高聚物的熔点与两相的组成有关,小分子晶体的熔点与两相的组成无关。
考题
单选题在反光显微镜下,可得到()等四种不同的观测条件。A
自然光、斜照光、单偏光、上偏光B
斜照光、单偏光、上偏光、锥光C
自然光、单偏光、正交偏光、斜照光D
斜照光、上偏光、前偏光、正交偏光
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