网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)

在偏光显微镜法测高聚物的熔点时,所做的试样片的厚度为()。

  • A、1~5cm
  • B、1~5mm
  • C、0.1~0.5mm
  • D、0.01~0.05mm

参考答案

更多 “在偏光显微镜法测高聚物的熔点时,所做的试样片的厚度为()。A、1~5cmB、1~5mmC、0.1~0.5mmD、0.01~0.05mm” 相关考题
考题 ()不是矿物分析。 A、物相分析B、试金分析C、岩矿鉴定D、偏光显微镜分析

考题 免疫荧光染色观察结果应采用的显微镜为A、普通光学显微镜B、相差显微镜C、荧光显微镜D、电子显微镜E、偏光显微镜

考题 A.透射偏光显微镜B.光学显微镜C.反射偏光显微镜D.电子显微镜E.以上都不是胶态矿物药使用的显微镜是

考题 A.电子显微镜B.透射偏光显微镜C.光学显微镜D.反射偏光显微镜E.以上都不是粉末矿物药用

考题 A.电子显微镜B.透射偏光显微镜C.光学显微镜D.反射偏光显微镜E.以上都不是胶态矿物药用

考题 偏光显微镜( )

考题 在用偏光显微镜法测定高聚物的熔点时,下列表述哪一个是错误的()。A、试样的状态对结果影响很大B、点火的方式对测试结果影响很大C、升温速度对测试结果也有较大的影响

考题 屋面防水厚度小于3mm时的高聚物改性沥青卷材严禁采用热熔法。

考题 在使用金相显微镜时,若视场明亮,则使用的观察方法是()。A、暗场观察B、明场观察C、偏光观察

考题 对超声波测厚试块的要求有()A、试块要求与被检材料相同或近似的声学性B、在被测范围内,有精确的厚度值C、试块最大厚度应接近测厚范围的最大值D、试块最小厚度应接近测厚范围的最小值

考题 简述偏光显微镜法测高聚物熔点的测试原理。

考题 在使用毛细管法测定高聚物的熔点时,当试验温度到达比预期的熔点低多少时,把升温速度调整到2±0.5℃()。A、50℃B、20℃C、10℃D、5℃

考题 在高聚物结晶过程中拉伸,则会导致()。A、熔点升高B、熔点下降C、熔点不变

考题 在用偏光显微镜法测高聚物的熔点时,对于某些材料,在加热过程中空气能引起氧化、降解,从而造成无法观察到双折射现象,对于这类试样,需用惰性气体对其进行保护,一般用()。A、氮气B、氢气C、氨气D、氩

考题 晶态高聚物与小分子晶体的溶解过程的区别,下列说法中正确的是()。A、结晶高聚物的熔融过程是折线,小分子晶体的熔融过程是渐近线。B、结晶高聚物的熔点无记忆性,小分子晶体的熔点由记忆性。C、结晶高聚物的熔点温度范围窄,小分子晶体的熔点温度范围宽。D、结晶高聚物的熔点与两相的组成有关,小分子晶体的熔点与两相的组成无关。

考题 用偏光显微镜法测量高聚物的熔点时,当从目镜中观察到双折射现象时的温度定义为该物质的熔点()。A、消失B、最明显C、出现

考题 偏光显微镜在使用之前要进行哪些调节与校正?调节焦距时应怎样做?

考题 请举例说明影响晶态高聚物熔点的结构因素有哪些,并写出一种耐高温材料(Tm>300℃)的化学结构式和名称。试列举一种测定高聚物熔点的方法及原理。

考题 用偏光显微镜观察宝石多色性,应在:().A、单偏光下进行B、正偏光下进行C、锥光下进行

考题 问答题偏光显微镜在使用之前要进行哪些调节与校正?调节焦距时应怎样做?

考题 名词解释题高聚物的熔点

考题 填空题在偏光显微镜中,校正上下偏光振动方向的矿物为()。

考题 问答题请举例说明影响晶态高聚物熔点的结构因素有哪些,并写出一种耐高温材料(Tm>300℃)的化学结构式和名称。试列举一种测定高聚物熔点的方法及原理。

考题 其它(1).为存在于薄壁细胞中的类圆球形的小颗粒( )|(2).遇稀碘液变蓝紫色( )|(3).在偏光显微镜下观察,可见其有偏光现象( )|(4).加硝酸汞试液,显砖红色( )

考题 多选题对超声波测厚试块的要求有()A试块要求与被检材料相同或近似的声学性B在被测范围内,有精确的厚度值C试块最大厚度应接近测厚范围的最大值D试块最小厚度应接近测厚范围的最小值

考题 单选题镀层的厚度检验中,()测厚是一种快速、高精度的非破坏性测厚方法。A 点滴法B 金相显微镜法C 磁性法D X射线荧光法

考题 单选题在反光显微镜下,可得到()等四种不同的观测条件。A 自然光、斜照光、单偏光、上偏光B 斜照光、单偏光、上偏光、锥光C 自然光、单偏光、正交偏光、斜照光D 斜照光、上偏光、前偏光、正交偏光