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线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是（）

  • A、d=106-2/10
  • B、d=10（6-2/）10
  • C、Z=10（6-d）/10
  • D、Z=106-d/10

参考答案

更多 “线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是（）A、d=106-2/10B、d=10（6-2/）10C、Z=10（6-d）/10D、Z=106-d/10” 相关考题
考题 按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，小径管可选用通用线型像质计，也可选用专用(等径金属丝)像质计。()
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考题 射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于（）mm
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考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是
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考题 下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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考题 线型像质计的金属丝直径序列，最广泛采用的是（）数列A、等比B、等差C、指数D、几何级数
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考题 R10系列象质计，相邻两金属丝的直径变化遵循的公式为（）。（d—金属丝致敬，z—象质指数）A、dz-1=1.25dzB、dz-1=0.8dzC、dz+1=1.25dzD、以上都不对
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考题 以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
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考题 最广泛使用的像质计型式主要是（）A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是
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考题 工业射线照相用的像质计大致有（）A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是
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考题 R10系列的象质计，相邻两金属丝的直径变化遵循的公式为（）（d一金属丝直径，Z一象质指数z）。A、dz-1＝1.25dzB、dz-1＝0.8dzC、dz+1＝1.25dzD、以上都不对
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考题 孔洞型像质计编号为20号，这表示（）A、最小孔洞直径0.20英寸B、最小孔洞直径2.0mmC、像质计厚度0.20英寸D、像质计厚度0.020英寸
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考题 像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A、像质计B、透度计C、以上都对
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考题 透照时，摆放的像质计的最细金属丝应位于（）侧
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考题 实验表明，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响，要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。
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考题 常用的像质计是（）。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是
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考题 常用的像质计是板式像质计。
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考题 单选题孔洞型像质计编号为20号，这表示（）A 最小孔洞直径0.20英寸B 最小孔洞直径2.0mmC 像质计厚度0.20英寸D 像质计厚度0.020英寸
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考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有（）A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是
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考题 单选题R10系列的象质计，相邻两金属丝的直径变化遵循的公式为（）（d一金属丝直径，Z一象质指数z）。A dz-1＝1.25dzB dz-1＝0.8dzC dz+1＝1.25dzD 以上都不对
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考题 单选题最广泛使用的像质计型式主要是（）A 丝型像质计B 阶梯孔型像质计C 平板孔型像质计D 以上都是
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考题 单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A 像质计B 透度计C 以上都对
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考题 单选题常用的像质计是（）。A 槽式像质计B 线形像质计C 孔形像质计D 以上都是
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考题 填空题射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于（）mm
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考题 单选题线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是（）A d=106-2/10B d=10（6-2/）10C Z=10（6-d）/10D Z=106-d/10
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考题 单选题线型像质计的金属丝直径序列，最广泛采用的是（）数列A 等比B 等差C 指数D 几何级数
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考题 填空题透照时，摆放的像质计的最细金属丝应位于（）侧
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考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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