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声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）

  • A、反射波高随粗糙度的增大而增加
  • B、无影响
  • C、反射波高随粗糙度的增大而下降
  • D、以上A和C都可能

参考答案

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考题 拉伸件的常见缺陷是外表有擦伤或拉毛，这主要是凹模及侧壁的（）。A、硬度高和表面粗糙度大B、硬度低和表面粗糙度小C、硬度低和表面粗糙度大
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考题 缺陷“自身”影响缺陷回波高度的因素有：缺陷形状，缺陷所处方位及其指向性，缺陷表面粗糙度，缺陷大小，缺陷性质。
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考题 除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A、缺陷取向B、缺陷形状C、缺陷类型D、缺陷的表面粗糙度
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考题 在进行表面粗糙度的测量时，划伤、磕碰伤等表面缺陷不应计入表面粗糙度的评定。
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考题 （）不是超声波探伤的缺点。A、判断缺陷性质直观性差B、对缺陷尺寸判断不够准确C、近表面缺陷不易发现D、要求探伤零件表面粗糙度较高
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考题 对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A、 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B、 无影响C、 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D、 以上都对
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考题 用板波法探测薄钢板时，能否把荧光屏上的反射波区分出是内部缺陷还是表面缺陷？（）A、 能B、 不能C、 有时能D、 观察不到表面缺陷波
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考题 用板波法探测薄钢板时，（）把荧光屏上的反射波区分出是内部缺陷还是表面缺陷。A、能B、不能C、有时能D、观察不到表面缺陷波
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考题 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）。A、反射波高随粗糙度的增大而增加B、无影响C、反射波高随粗糙度的增大而下降D、以上a和b都可能
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考题 超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而减小。
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考题 缺陷本身的开隙度，取向，表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响。
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考题 超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷与入射到尺寸相同而表面光滑的缺陷相比（）。A、前者反射波高B、前者反射波低C、反射波相同D、前者反射波无规律性变化
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考题 A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有（）。A、缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B、缺陷的反射波高C、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D、自表面测得的缺陷延伸度
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考题 同等距离的相同缺陷，光滑表面和粗糙表面相比，后者更有利于声波的反射。
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考题 在超声波探伤中，缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响？
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考题 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）。A、反射波高随粗糙度的增大而增加B、无影响C、反射波高随粗糙度的增大而下降
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考题 判断题超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而减小。A 对B 错
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考题 判断题同等距离的相同缺陷，光滑表面和粗糙表面相比，后者更有利于声波的反射。A 对B 错
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考题 多选题除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A缺陷取向B缺陷形状C缺陷类型D缺陷的表面粗糙度
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考题 单选题对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A  缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B  无影响C  缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D  以上都对
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考题 问答题在超声波探伤中，缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响？
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考题 单选题超声波探伤时，距离表面一段距离内的缺陷难以探测，是因为（）A 扫描方法不对B 表面粗糙度不符合要求C 缺陷波与初始波难以分辨D 缺陷波与底波难以分辨
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考题 单选题超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷与入射到尺寸相同而表面光滑的缺陷相比（）。A 前者反射波高B 前者反射波低C 反射波相同D 前者反射波无规律性变化
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考题 单选题A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有（）。A 缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B 缺陷的反射波高C 被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D 自表面测得的缺陷延伸度
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考题 单选题超声波探对于距离表面一段距离内的缺陷难以探测，是因为（）A 扫描方法不对B 表面粗糙度不符合要求C 缺陷波与初始波难分辨D 缺陷波与底波难分辨
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考题 判断题缺陷本身的开隙度，取向，表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响。A 对B 错
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考题 单选题声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）A 反射波高随粗糙度的增大而增加B 无影响C 反射波高随粗糙度的增大而下降D 以上a和b都可能
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考题 单选题声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）。A 反射波高随粗糙度的增大而增加B 无影响C 反射波高随粗糙度的增大而下降
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