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X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。

  • A、组成
  • B、制样方法
  • C、样品无裂纹
  • D、样品无气孔

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考题 X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
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考题 X射线荧光定量分析方法有（）和（）两大类。
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考题 X射线荧光仪样品室抽真空，其目的是为了（）。
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考题 X射线荧光仪样品室抽真空，其目的是为了减少空气对（）的吸收。
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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考题 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
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考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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考题 X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
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考题 X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
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考题 X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
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考题 X射线荧光定量分析时，采用比较标准法，其适宜的分析对象的特征是什么？其标准样的配制应注意什么？
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考题 用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品，最好的定量方法是（）A、标准曲线法B、比较标准法C、稀释法D、标准加入法
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考题 单选题用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品，最好的定量方法是（）A 标准曲线法B 比较标准法C 稀释法D 标准加入法
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考题 问答题X射线荧光定量分析时，采用比较标准法，其适宜的分析对象的特征是什么？其标准样的配制应注意什么？
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考题 问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？
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考题 多选题对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时，样品放置应满足（）A从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的左边B从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的右边C样品放置，应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器D样品放置位置关系不大，只要能满足聚焦清晰即可
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