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X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。


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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。

考题 简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?

考题 不影响X荧光分析的主要因素有()。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应

考题 X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性

考题 在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

考题 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于()分析法。

考题 以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

考题 不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是()A、看谱分析B、手持X射线荧光光谱分析C、手持激光诱导击穿光谱分析D、光电直读光谱分析

考题 X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。

考题 X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类,即()。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法

考题 X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。

考题 在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

考题 影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的()、()两类。

考题 简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?

考题 X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。

考题 火花直读原子发射光谱分析方法与ICP-AES分析方法相比较,其特点是()A、分析速度快;B、准确度高;C、分析元素种类多;D、没有基体效应;E、精密度高

考题 进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

考题 用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品,最好的定量方法是()A、标准曲线法B、比较标准法C、稀释法D、标准加入法

考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析,选择内标物应遵循()A、内标物与被测物的激发X射线波长相近,基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近,,基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相差大

考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

考题 问答题简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

考题 问答题X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同?分别有怎样的适用性?

考题 问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应,除了内标法和标准加入法外,还有哪几种方法?

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考题 单选题不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是()A 看谱分析B 手持X射线荧光光谱分析C 手持激光诱导击穿光谱分析D 光电直读光谱分析