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测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是（）

  • A、穿透性导电通道
  • B、降绝缘内含气泡的电离
  • C、受热
  • D、绝缘油脏污、劣化

参考答案

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考题 介质损耗角正切法能适合发现哪些绝缘缺陷?
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考题 下列缺陷中,介质损耗所不能反映的缺陷是()。 A、绝缘受潮B、绝缘脏污C、绝缘部分击穿D、绝缘中存在气隙放电
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考题 介质损耗测量能发现被试物所有绝缘缺陷。()
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考题 当整个绝缘普遍劣化，大面积受潮时，有效的试验判断方法是（ ）。A.测泄漏电流 B.测直流电阻 C.测介质损耗因数 D.测绝缘电阻
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考题 绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断（），对于判断局部缺陷不灵敏，还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。
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考题 变压器绕组绝缘介质损耗因数与（）比较变大或者变小可能是缺陷的反映。
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考题 测量介质损耗因数，通常不易发现（）。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
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考题 什么是介质损耗？为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差？
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考题 击穿强度高，介质损耗因数tgδ小的绝缘油，体积电阻一定小。
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考题 可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷
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考题 当整个绝缘普遍劣化，大面积受潮时，有效的试验判断方法是（）。A、测泄漏电流B、测直流电阻C、测介质损耗因数D、测绝缘电阻
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考题 测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
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考题 在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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考题 介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
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考题 测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
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考题 绝缘油介质损耗测试以（）次有效测量值的平均值作为试样的介质损耗因数。A、1B、2C、3D、4
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考题 电力变压器、电抗器绕组绝缘介质损耗因数测量，必要时分别测量（）的绝缘介质损耗因数。A、被测绕组本体B、被测绕组对地C、被测绕组对其它绕组D、相邻绕组
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考题 耦合电容器的主要参数是（）A、标称电容量Cb和绝缘电阻B、介质损耗因数tgδ和额定电压C、标称电容量Cb和介质损耗因数tgδD、标称电容量Cb和高频等效电阻r
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考题 介质损耗因数tgδ的含义？
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考题 现场用电桥测量介质损耗因数，出现－tgδ的主要原因：①标准电容器CN有损耗，且tgδN＞tgδx；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
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考题 为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ，对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义？
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考题 电压互感器绝缘电阻超过要求，或者怀疑绕组绝缘存在缺陷时，可进行（）试验。A、绕组绝缘介质损耗因数B、支架绝缘介质损耗因数C、油中溶解气体分析D、气体密度继电器校验
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考题 测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效？（）A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
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考题 问答题什么是介质损耗？为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差？
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考题 单选题测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷
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考题 判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错
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考题 单选题当整个绝缘普遍劣化，大面积受潮时，有效的试验判断方法是（）。A 测泄漏电流B 测直流电阻C 测介质损耗因数D 测绝缘电阻
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