考题
当电流互感器末屏绝缘电阻不能满足要求时，可通过测量末屏介质损耗因数作进一步判断，测量电压为2kV,通常要求小于0.015。( )
考题
绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断（），对于判断局部缺陷不灵敏，还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。
考题
变压器绕组绝缘介质损耗因数与（）比较变大或者变小可能是缺陷的反映。
考题
测量介质损耗因数，通常不易发现（）。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
考题
测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。
考题
测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是（）A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化
考题
可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷
考题
测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
考题
测量绝缘油的介质损耗因数时，汕温一般为（）后在测量。A、90℃B、室温C、0℃D、50℃
考题
绝缘油介质损耗测试以（）次有效测量值的平均值作为试样的介质损耗因数。A、1B、2C、3D、4
考题
测量变压器绕组绝缘介质损耗因数时，应同时测量电容值，若此电容值发生明显变化，应予以注意。分析时应注意（）对介质损耗因数的影响。A、温度B、湿度C、环境D、风力
考题
电力变压器、电抗器绕组绝缘介质损耗因数测量，必要时分别测量（）的绝缘介质损耗因数。A、被测绕组本体B、被测绕组对地C、被测绕组对其它绕组D、相邻绕组
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ，对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义？
考题
电压互感器绝缘电阻超过要求，或者怀疑绕组绝缘存在缺陷时，可进行（）试验。A、绕组绝缘介质损耗因数B、支架绝缘介质损耗因数C、油中溶解气体分析D、气体密度继电器校验
考题
电容型设备绝缘在线监测装置介质损耗因数的测量范围为（）。A、0.001～0.3B、0～0.3C、0.0001～0.5D、0～1
考题
测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效？（）A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
单选题测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
整体受潮B
整体劣化C
小体积试品的局部缺陷D
大体积试品的局部缺陷
考题
单选题下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是（）。A
整体受潮B
全面老化C
绝缘油脏污劣化D
大容量设备的局部缺陷
考题
判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A
对B
错
考题
单选题测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
整体受潮B
整体劣化C
小体积试品的局部缺陷D
大体积试品的局部缺陷
考题
填空题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。