考题
下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是()。
A.绝缘油脏污劣化B.整体受潮C.大容量设备的局部缺陷D.全面老化
考题
测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是（ ）。A.绝缘整体受潮
B.存在贯穿性的导电通道
C.绝缘局部严重受潮
D.绝缘中的局部缺陷
考题
测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是（）。A绝缘整体受潮B存在贯穿性的导电通道C绝缘局部严重受潮D绝缘中的局部缺陷
考题
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错
考题
通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A对B错
考题
当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。A对B错
考题
变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器（）、严重的局部缺陷等。A、局部受潮B、整体赃污C、整体受潮D、局部受潮绝缘油劣化
考题
测量介质损耗因数，通常不易发现（）。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是（）A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化
考题
通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。
考题
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
考题
介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
考题
测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
介损tgδ不能发现的缺陷有（）。A、整体受潮B、劣化C、大体积绝缘的集中性缺陷D、小体积绝缘的集中性缺陷
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
考题
通过测量（）可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A、电感B、电容C、介质损耗角正切值
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷；B、整体受潮；C、贯穿性受潮或脏污；D、整体老化及局部缺陷。
考题
单选题测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
整体受潮B
整体劣化C
小体积试品的局部缺陷D
大体积试品的局部缺陷
考题
判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A
对B
错
考题
判断题tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A
对B
错
考题
单选题测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是（）。A
绝缘整体受潮B
存在贯穿性的导电通道C
绝缘局部严重受潮D
绝缘中的局部缺陷
考题
单选题测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
整体受潮B
整体劣化C
小体积试品的局部缺陷D
大体积试品的局部缺陷
考题
判断题当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。A
对B
错
考题
判断题通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A
对B
错