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横波探头晶片尺寸一定时,K值与近场区长度的关系为()

  • A、K值增大时,近场区长度不变
  • B、K值增大时,近场区长度增大
  • C、K值增大时,近场区长度减小
  • D、K值与近场区长度无关

参考答案

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考题 同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。

考题 超声场的近场区长度与波源面积及波长的关系()。A、 近场区长度与波源面积及波长成正比B、 近场区长度与波源面积及波长成反比C、 近场区长度与波源面积成正比,与波长成反比D、 近场区长度与频率成正比,与波源面积成反比

考题 斜探头横波声场近场区分布在()介质中,近场长度随入射角的增大而()。

考题 横波探头晶片尺寸一定,K值增大时,近场区长度减小。

考题 当波源直径一定,探头频率增加时,其近场区长度()。A、 增加B、 减少C、 不变D、 与频率无关

考题 斜探头横波声场近场区分布在两种介质中,在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而()。 A、 增大B、 不变C、 减小D、 都有可能

考题 斜探头横波声场近场区分布在两种介质中,近场长度随入射角的增大而缩短。

考题 斜探头横波声场近场区分布在两种介质中,近场长度随入射角的增大而()。

考题 超声场可分为近场区和远场区,近场区的长度是轴线上最后一个声压极大值至波源的距离

考题 简述斜探头的K值与钢中近场区长度之间的关系。

考题 探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。

考题 在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。

考题 探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。A、增加B、减小C、不变

考题 要减小近场区长度,必须更换大直径探头。

考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加()的声程,避免近场区探伤。

考题 探头晶片尺寸增加,近场区长度增加,对探伤不利。

考题 斜探头K值的测定应在()近场区以外进行。A、1倍B、2倍C、3倍D、10倍

考题 判断题在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。A 对B 错

考题 单选题超声场的近场区长度与波源面积及波长的关系()。A  近场区长度与波源面积及波长成正比B  近场区长度与波源面积及波长成反比C  近场区长度与波源面积成正比,与波长成反比D  近场区长度与频率成正比,与波源面积成反比

考题 填空题探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。

考题 单选题斜探头横波声场近场区分布在两种介质中,在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而()。A  增大B  不变C  减小D  都有可能

考题 问答题简述斜探头的K值与钢中近场区长度之间的关系。

考题 单选题横波探头晶片尺寸一定时,K值与近场区长度的关系为()A K值增大时,近场区长度不变B K值增大时,近场区长度增大C K值增大时,近场区长度减小D K值与近场区长度无关

考题 判断题横波探头晶片尺寸一定,K值增大时,近场区长度减小。A 对B 错

考题 判断题探头晶片尺寸增加,近场区长度增加,对探伤不利。A 对B 错

考题 单选题探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。A 增加B 减小C 不变

考题 判断题同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。A 对B 错