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单选题
横波探头晶片尺寸一定时，K值与近场区长度的关系为（）
A

K值增大时，近场区长度不变

B

K值增大时，近场区长度增大

C

K值增大时，近场区长度减小

D

K值与近场区长度无关

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考题 横波探头晶片尺寸一定时，K值与近场区长度的关系为（）A、K值增大时，近场区长度不变B、K值增大时，近场区长度增大C、K值增大时，近场区长度减小D、K值与近场区长度无关
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考题 探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。A、 声束的指向性B、 近场区长度C、 远距离缺陷检出能力D、 以上都是
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考题 同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比，近场区长度与晶片面积成正比。
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考题 探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。
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考题 斜探头横波声场近场区分布在（）介质中，近场长度随入射角的增大而（）。
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考题 横波探头晶片尺寸一定，K值增大时，近场区长度减小。
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考题 斜探头横波声场近场区分布在两种介质中，在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而（）。 A、 增大B、 不变C、 减小D、 都有可能
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考题 探头的选择包括探头的型式、频率 、晶片尺寸和斜探头K值等
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考题 近场区长度在频率给定时随晶片直径的变小而（）。
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考题 近场区长度在频率给定时随晶片直径的变小而变小。
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考题 简述斜探头的K值与钢中近场区长度之间的关系。
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考题 探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
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考题 斜探头近场区长度是按晶片在投影后的有效面积计算。
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考题 说明指向角和近场区长度的关系，在实际探伤中如何选择探头频率和晶片的尺寸？
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考题 探头晶片尺寸选择应考虑哪些因素？横波斜探头Ｋ值如何选择？
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考题 探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。
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考题 问答题说明指向角和近场区长度的关系，在实际探伤中如何选择探头频率和晶片的尺寸？
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考题 问答题简述斜探头的K值与钢中近场区长度之间的关系。
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考题 单选题斜探头横波声场近场区分布在两种介质中，在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而（）。A  增大B  不变C  减小D  都有可能
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考题 判断题探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。A 对B 错
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考题 判断题横波探头晶片尺寸一定，K值增大时，近场区长度减小。A 对B 错
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考题 单选题探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。A  声束的指向性B  近场区长度C  远距离缺陷检出能力D  以上都是
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考题 判断题斜探头近场区长度是按晶片在投影后的有效面积计算。A 对B 错
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考题 填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
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考题 问答题探头晶片尺寸选择应考虑哪些因素？横波斜探头Ｋ值如何选择？
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考题 单选题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。A 增加B 减小C 不变
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考题 判断题同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比，近场区长度与晶片面积成正比。A 对B 错
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