考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是（）。A、热靶加热不足B、曲线斜率故障C、探头输出溢出D、热靶加热过快E、起始温度异常
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）探测站测量挡板温度的温度传感器的型号是PT1000。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）探测站控制航空插座包含（）信号。A、探头电压B、热靶加热信号C、制冷电压D、元温输出信号
考题
THDS-A（哈科所）探测站中轨边探头箱的主要作用有（）。A、防雪B、测温C、保护探头D、测速E、测距
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头电缆包含（）信号。A、热靶加热信号B、保护门电压C、热靶电机电压D、校零电压
考题
THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A、环温B、热靶温度C、探头内部温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中轨边探头箱的主要作用有（）。A防雪B测温C保护探头D测速E测距
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是（）。A热靶加热不足B曲线斜率故障C探头输出溢出D热靶加热过快E起始温度异常
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站测量挡板温度的温度传感器的型号是PT1000。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。A
对B
错
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A
环温B
保护门温度C
热靶温度D
以上都不对
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站控制航空插座包含（）信号。A
探头电压B
热靶加热信号C
制冷电压D
元温输出信号
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站右侧探头箱上盖的标识字母为（）。A
ZB
YC
LD
R
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变