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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。

  • A、前一个缺陷大于后一个
  • B、后一个缺陷大于前一个
  • C、两者一样大
  • D、两者大小关系不确定

参考答案

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考题 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意

考题 用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量。( )A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔

考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷 B.与探测面倾斜的缺陷 C.垂直于探测面的缺陷 D.不能用斜探头检测的缺陷

考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

考题 尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线()。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷

考题 在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()

考题 下列关于用触头法探测钢板对接焊缝的说法,正确的是()。A、为了检出横向缺陷,触头连线应与焊缝垂直B、在检测范围内,磁场强度的方向和大小并不是完全相同的C、必须注意通电时试件的烧损问题D、以上都是

考题 用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是

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考题 垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()。A、长度B、垂直距离C、深入探测面的深度D、声程或至探测面的垂直距离

考题 在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的大小()与类型

考题 用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

考题 以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对

考题 探测灵敏度的高低,应由试件检验人员决定。

考题 垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度D、A和B

考题 垂直法探伤所定的缺陷深度,也就是缺陷至探测面的垂直距离.

考题 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。

考题 垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷()A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度

考题 在相同的探测条件下,对同一焊件分别用横波和纵探测的,横波的检测灵敏度比纵波高。

考题 问答题用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

考题 单选题在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量:()A 等于Φ2mm平底孔B 比Φ2mm平底孔大C 比Φ2mm平底孔小D 大于等于Φ2mm平底孔

考题 单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对

考题 多选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷()A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度

考题 单选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()A 声程B 至探测面的垂直距离C 深入探测面的深度D A和B

考题 单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A 平行于探测面的缺陷B 与探测面倾斜的缺陷C 垂直于探测面的缺陷D 不能用斜探头检测的缺陷

考题 判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。A 对B 错