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单选题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。
最可能的原因是（ ）
A
备洞时刺激牙髓
B
充填时未垫底
C
流电作用
D
充填体悬突
E
充填体高点
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考题
患者因龋一次性银汞充填后，冷热刺激痛，无自发痛，查：充填物完好，叩诊（－），冷热测试同对照侧，但测充填体处痛。处理应为A、观察B、牙髓治疗C、去除旧充填物、垫底，重新充填D、脱敏E、去除充填物改用其他充填材料充填最可能的原因是A、备洞时刺激牙髓B、充填体悬突C、充填体高点D、流电作用E、充填时未垫底
考题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点处理应为A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩(一)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛最可能的原因是A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点处理应为A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填如充填后短期无症状，长时期后出现冷热刺激痛，偶有自发痛，可能的原因不包括A、未发现小的穿髓孔B、充填时未垫底C、继发龋D、牙髓情况判断不清E、充填体边缘不密合如诊断为慢性牙髓炎，处理应为A、观察B、脱敏C、安抚治疗D、开髓引流E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩(-)，冷热侧正常牙面时无痛，但侧充填体处痛最可能的原因是A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点处理应为A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填如充填后短期无症状，长时期后出现冷热刺激痛，偶有自发痛，可能的原因不包括A、未发现小的穿髓孔B、充填时未垫底C、继发龋D、牙髓情况判断不清E、充填体边缘不密合如诊断为慢性牙髓炎，处理应为A、观察B、脱敏C、安抚治疗D、开髓引流E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者女，28岁，5天前因左上第二磨牙食甜物痛，曾直接做银汞充填。充填后觉冷热刺痛，并无自发痛。查：充填物完好，叩痛(-)，冷测引起一过性痛其原因最可能为
A.材料刺激牙髓
B.备洞刺激牙髓
C.充填时未垫底
D.术前诊断错误
E.腐质未去干净
考题
共用题干
女，28岁。1周前因右上第一磨牙龋洞食甜物痛而直接做银汞充填D充填后觉冷热刺激痛，并逐渐加重，但无自发痛。检查：充填物完好，叩痛（-），冷测引起一过性痛。其原因最可能为A、备洞刺激牙髓B、腐质未去干净C、充填时未垫底D、术前诊断错误E、流电刺激牙髓
考题
共用题干
女，28岁。1周前因右上第一磨牙龋洞食甜物痛而直接做银汞充填D充填后觉冷热刺激痛，并逐渐加重，但无自发痛。检查：充填物完好，叩痛（-），冷测引起一过性痛。提示、如果充填后无其他不适，只在对牙合时觉刺痛，检查、充填物完好，叩痛（-），冷测同对照牙；右下第一磨牙面金属全冠完整。此时，分析发生症状的原因最可能为A、备洞刺激牙髓B、腐质未去干净C、充填时未垫底D、术前诊断错误E、流电刺激牙髓
考题
患者，男，36岁，因半年来右下第一磨牙咬合面深龋洞不能咬物而就诊。已做一次垫底银汞充填后一周，一天前出现自发痛，冷热痛持续，不能咬物。查：右下第一磨牙咬合面充填体完整，叩痛(+)，冷测引起剧痛。其原因最可能为
A.备洞对牙髓刺激
B.充填时垫底不良
C.充填后流电作用
D.充填前诊断错误
E.充填材料的刺激
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩(一)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛最可能的原因是
A.充填体高点
B.备洞时刺激牙髓
C.充填体悬突
D.充填时未垫底
E.流电作用
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩(一)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为
A.去旧充填体，改其他修复材料充填
B.观察
C.牙髓治疗
D.脱敏
E.去旧充填体，重新垫底充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是（）。A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点
考题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。
处理应为（ ）A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。
最可能的原因是（ ）A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。处理应为（）。A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。如诊断为慢性牙髓炎，处理应为（）。A、观察B、脱敏C、安抚治疗D、开髓引流E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为（）。A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛如充填后短期无症状，长时期后出现冷热刺激痛，偶有自发痛，可能的原因不包括（）。A、未发现小的穿髓孔B、充填时未垫底C、继发龋D、牙髓情况判断不清E、充填体边缘不密合
考题
患者主诉：一侧后牙冷热刺激痛已半年。查：7龋洞，探敏，叩（-），冷测正常牙面反应同对照牙，进入龋洞时引起疼痛，去除刺激立即消失。可能的治疗是（）A、树脂充填B、垫底，银汞充填C、磨除法D、药物治疗E、再矿化治疗
考题
患者女，28岁，5天前因左上第二磨牙食甜物痛，曾直接做银汞充填。充填后觉冷热刺痛，并无自发痛。查：充填物完好，叩痛（-），冷测引起一过性痛其原因最可能为（）.A、备洞刺激牙髓B、腐质未去干净C、充填时未垫底D、术前诊断错误E、材料刺激牙髓
考题
单选题患者女，28岁，5天前因左上第二磨牙食甜物痛，曾直接做银汞充填。充填后觉冷热刺痛，并无自发痛。查：充填物完好，叩痛（-），冷测引起一过性痛其原因最可能为（）.A
备洞刺激牙髓B
腐质未去干净C
充填时未垫底D
术前诊断错误E
材料刺激牙髓
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。处理应为（）。A
观察B
脱敏C
去旧充填体，重新垫底充填D
牙髓治疗E
去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛如诊断为慢性牙髓炎，处理应为（）。A
观察B
脱敏C
安抚治疗D
开髓引流E
去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题患者，男，36岁，因半年来右下第一磨牙咬合面深龋洞不能咬物而就诊。1周前已做一次垫底银汞充填，1天前出现自发痛，冷热痛持续，不能咬物。查：右下第一磨牙咬合面充填体完整，叩痛（+），冷测引起剧痛其原因最可能为（）。A
备洞对牙髓刺激B
充填时垫底不良C
充填后电流作用D
充填前诊断错误E
充填材料的刺激
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛如充填后短期无症状，长时期后出现冷热刺激痛，偶有自发痛，可能的原因不包括（）。A
未发现小的穿髓孔B
充填时未垫底C
继发龋D
牙髓情况判断不清E
充填体边缘不密合
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为（）。A
观察B
脱敏C
去旧充填体，重新垫底充填D
牙髓治疗E
去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩（-）冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。处理应为（）。A
观察B
脱敏C
去旧充填体，重新垫底充填D
牙髓治疗E
去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是（）。A
备洞时刺激牙髓B
充填时未垫底C
流电作用D
充填体悬突E
充填体高点
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