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多选题
下列状态下，过程未处于统计控制状态的有（ ）。[2008年真题]
A
连续8点落在中心线一侧
B
连续6点递增
C
连续14点交替上下
D
连续5点中有4点落在C区以外
E
连续15点落在中心线附近的C区内
参考答案
参考解析
解析：
国标GB／T4091—2001《常规控制图》中规定了8种判异准则，依次为：①准则1，一点落在A区以外；②准则2，连续9点落在中心线同一侧；③准则3，连续6点递增或递减；④准则4，连续14点相邻点上下交替；⑤准则5，连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外；⑥准则6，连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外；⑦准则7，连续15点在C区中心线上下；⑧准则8，连续8点在中心线两侧，但无一在C区中。
国标GB／T4091—2001《常规控制图》中规定了8种判异准则，依次为：①准则1，一点落在A区以外；②准则2，连续9点落在中心线同一侧；③准则3，连续6点递增或递减；④准则4，连续14点相邻点上下交替；⑤准则5，连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外；⑥准则6，连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外；⑦准则7，连续15点在C区中心线上下；⑧准则8，连续8点在中心线两侧，但无一在C区中。
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考题
生产过程中常说的统计控制状态是指（ ）。A.统计控制状态，是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B.控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握C.通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99．73％的产品是合格品D.在控制状态下生产的不合格品少，生产最经济E.统计控制状态是指过程中只有异常因素的状态
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于统计控制状态，下列说法正确的有( )。A．统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B．控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握C．通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99.73%的产品是合格品D．在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济E．统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
下列状态下，过程未处于统计控制状态的有（ ）。
A.连续8点落在中心线一侧 B.连续6点递增
C.连续14点交替上下 D.连续5点中有4点落在C区以外
E.连续15点落在中心线附近的C区内
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
下列对流程的陈述中错误的是（）A、当流程不受特殊因素影响时，流程处于统计受控状态下B、当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，流程处于统计受控状态下C、当控制限落在客户规格限内时，流程处于统计受控状态下D、当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程处于统计受控之下
考题
单选题下列对流程的陈述中错误的是（）A
当流程不受特殊因素影响时，流程处于统计受控状态下B
当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，流程处于统计受控状态下C
当控制限落在客户规格限内时，流程处于统计受控状态下D
当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程处于统计受控之下
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题统计过程控制主要包括（ ）两个方面的内容。[2008年真题]A
应用分析用控制图和控制用控制图B
利用控制图分析过程的稳定性和评价过程质量C
评价过程性能和评价过程能力D
判断过程是否处于技术控制状态和评价过程性能
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
多选题生产过程中常说的统计控制状态是指( )。A统计控制状态，是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握C通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99．73％的产品是合格品D在控制状态下生产的不合格品少，生产最经济E统计控制状态是指过程中只有异常因素的状态
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
不定项题(六)加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk ≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm根据以上材料，回答{TSE}题：{TS}下列论述正确的是( )。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态
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