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判断题
在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
A

对

B

错

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考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
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考题 在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，但（）A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏
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考题 当绝缘受潮、老化时，有功电流IR将增大，tgδ也增大。通过测量tgδ很灵敏地反映出绝缘的集中缺陷。
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考题 在一般情况下，介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏
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考题 在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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考题 判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错
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考题 判断题tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A 对B 错
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考题 判断题在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错
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考题 单选题介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，正确的是（）。A 对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏；B 对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏；C 对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏；D 对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。
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考题 判断题在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错
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