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在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。

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更多 “在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。” 相关考题
考题 J80、介质损失角试验能够反映出变压器绝缘所处的状态，但是（ ）。（A）对局部缺陷反映灵敏，对整体缺陷反映不灵敏 （B）对整体缺陷反映灵敏，对局部缺陷反映不灵敏 （C）对整体缺陷和局部缺陷反映都灵敏 （D）可能灵敏，可能不灵敏
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考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错
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考题 一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。A对B错
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考题 为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ，对反映局部缺陷并不灵敏？
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考题 检测电力设备局部放电的目的在于反映其（）。A、高温缺陷；B、机械损伤缺陷；C、伴随局部放电现象的绝缘缺陷；D、变压器油整体受潮缺陷。
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考题 介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
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考题 一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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考题 当电气设备的绝缘电阻反映了设备的绝缘情况，当绝缘受潮、表面赃污或有局部缺陷时，绝缘电阻会（）。
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考题 一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。
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考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
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考题 介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
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考题 绝缘体有缺陷时，其介损tgδ将随试验（）升高而变（）。
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考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，正确的是（）。A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏；B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏；C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏；D、对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。
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考题 变压器套管整体绝缘显著降低，能够有效发现缺陷的可能试验项目是（）。A、直流电阻B、阻抗测量C、套管绝缘电阻D、套管介损
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考题 在运行中的变压器发生异常时，通过进行（）可以发现变压器铁心磁路中的局部和整体缺陷。A、绕组介损试验B、空载试验C、套管电容量测试D、绕组绝缘电阻
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考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，但（）A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏
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考题 当绝缘受潮、老化时，有功电流IR将增大，tgδ也增大。通过测量tgδ很灵敏地反映出绝缘的集中缺陷。
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考题 介损tgδ不能发现的缺陷有（）。A、整体受潮B、劣化C、大体积绝缘的集中性缺陷D、小体积绝缘的集中性缺陷
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考题 在一般情况下，介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏
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考题 绝缘的吸收比能够反映各类设备绝缘除受潮、脏污以外的所有局部绝缘缺陷。（）
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考题 在一般情况下，介质损耗tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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考题 通常把绝缘电阻、泄漏电流、介损tgδ、油的化学性能等的试验叫作绝缘的予防性试验，试说明这些试验项目可以发现的绝缘缺陷的类型。
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考题 判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错
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考题 判断题在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错
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考题 判断题tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A 对B 错
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考题 单选题介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，正确的是（）。A 对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏；B 对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏；C 对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏；D 对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。
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考题 判断题在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错
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