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（请给出正确答案）
标准型的直方图与公差比较，上下限都严重超差的原因是（ ）。
A．该过程处于不稳定状态
B．该过程处于稳定状态，但过程能力不够
C．过程存在可查明因素
D．过程存在偶然因素
参考答案
更多 “ 标准型的直方图与公差比较，上下限都严重超差的原因是（ ）。A．该过程处于不稳定状态B．该过程处于稳定状态，但过程能力不够C．过程存在可查明因素D．过程存在偶然因素 ” 相关考题
考题
关于过程波动影响因素的说法，正确的有（ ）。A.影响因素的来源可分为人、机、料、法、环、测六个方面B.异常因素不是过程固有的，但对过程影响较大C.减燮昴常因蒙可以消除偶然波动D.偶然因素引起过程的髓机波动，反映过程的固有能力E.从过程是否处于统计控制状态可以搿断过、程中是否存在异常因素
考题
当分析用控制图显示过程处于统计控制状态时，表明（）。
A.可以利用图中的数据计算过程能力指数
B.过程将持续生产符合规范的产品
C.过程输出是可预测的
D.过程中存在特殊因素的影响
E.过程的过程能力指数Cp＝1
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
过程处于统计控制状态，则（ ）。
A.过程中只有偶然因素，没有异常因素
B.过程中只有异常因素，没有偶然因素
C.过程能力指数未必满足要求
D.应继续判断过程是否达到技术控制状态
E.控制图中的点都集中在中心线附近的C区
考题
当过程处于统计控制状态时，（ ）。
A.过程中不存在偶然因素的影响
B.过程将持续生产出符合规格的产品
C.过程输出是可预测的
D.过程的CP值大于或等于1
E.控制图上没有呈现出失控迹象
考题
绘制分析用控制图阶段的主要工作有（ ）。
A.分析过程是否处于统计控制状态
B.分析过程是否存在偶然波动
C.实时分析数据，监控过程长期运行状态
D.分析过程的过程能力指数是否满足要求
E.分析过程合格率低的原因
考题
直方图的形状出现异常的原因有（ ）。A.生产过程存在影响质量的系统因素
B.生产过程存在影响质量的随机因素
C.收集整理数据制作直方图的方法不当
D.质量能力处于临界状态
E.质量管理水平低
考题
某机械厂加工车间飞翔小组收集了两台机床加工出的60个零件，测量了厚度，并绘制了直方图。由于直方图是双峰型，小组分析后对数据进行再次处理，重新绘制了直方图，新的直方图呈现标准型，基本符合正态分布，但与公差比较，上下限都严重超差。
标准型的直方图与公差比较，上下限都严重超差的原因可能是（ ）。
A.该过程处于不稳定状态 B.该过程处于稳定状态，但过程能力不够
C.过程存在可查明因素 D.过程存在偶然因素
考题
关于过程波动影响因素的说法,正确的有（）。
A.影响因素的来源可分为人、机、料、法、.环、测六个方面
B.异常因素不是过程固有的，但对过程影响较大
C.减少异常因素可以消除偶然波动
D.偶然因素引起过程的随机波动，反映过程的固有能力
E.从过程是否处于统计控制状态可以判断过程中是否存在异常因素
考题
过程处于统计控制状态，意味着（）。
A.生产出来的产品都合格
B.该过程的过程能力指数Cp大于1
C.产品输出特性值大部分都落在控制图的控制限内
D.过程中只存在偶然因素
E.控制图上没有点出界和异常排列
考题
从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。
A.过程处于统计控制状态
B.具有足够的生产能力
C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
D.过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
当过程处于统计控制状态时，正确的有（ ）。
A.过程中不存在异常因素的影响
B.过程将持续生产出符合规格的产品
C.过程输出是可预测的
D.过程中仅存在偶然波动
E.过程的Cp值大于或等于1
考题
多选题过程处于统计控制状态，则（ ）。[2008年真题]A过程中只有偶然因素，没有异常因素B过程中只有异常因素，没有偶然因素C过程能力指数未必满足要求D应继续判断过程是否达到技术控制状态E控制图中的点都集中在中心线附近的C区
考题
多选题控制图上点出界，则表明（ ）。[2007年真题]A过程处于技术控制状态B过程可能存在异常因素C小概率事件发生D过程稳定性较好E过程未处于统计控制状态
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