考题
下列缺陷中,介质损耗所不能反映的缺陷是()。
A、绝缘受潮B、绝缘脏污C、绝缘部分击穿D、绝缘中存在气隙放电
考题
通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A对B错
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、贯穿性受潮或脏污D、局部缺陷
考题
在高于起始放电电压时，绝缘介质的损耗会随电压的增加而（），因此用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（），但这种方法的灵敏度较低。
考题
测量介质损耗因数，通常不易发现（）。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。
考题
测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是（）A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化
考题
可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷
考题
通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。
考题
测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
考题
介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、贯穿性受潮或脏污D、整体老化及局部缺陷
考题
测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ，对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义？
考题
测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效？（）A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
考题
单选题测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
整体受潮B
整体劣化C
小体积试品的局部缺陷D
大体积试品的局部缺陷
考题
单选题下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是（）。A
整体受潮B
全面老化C
绝缘油脏污劣化D
大容量设备的局部缺陷
考题
填空题在高于起始放电电压时，绝缘介质的损耗会随电压的增加而（），因此用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（），但这种方法的灵敏度较低。
考题
判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A
对B
错
考题
单选题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
贯穿性缺陷B
整体受潮C
贯穿性受潮或脏污D
整体老化及局部缺陷
考题
单选题测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A
整体受潮B
整体劣化C
小体积试品的局部缺陷D
大体积试品的局部缺陷
考题
填空题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。
