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分析用的光谱样品必须保证（）

  • A、成分均匀
  • B、分析面无裂纹
  • C、分析面洁净

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考题 能力验证用的样品应进行均匀性和稳定性分析。
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考题 红用外光谱分析液态样品，可采用（）样品池。A、固定式B、可拆式C、不透光式D、加热式
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考题 如何减少分析误差（）。A、减少环境因素对光谱分析结果的干扰（温度、湿度、电磁干扰、震动等）B、氩气纯度要达到光谱分析的要求C、样品的均匀度要好，要无物理缺陷D、样品制备要符合光谱分析要求
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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考题 光谱定量分析时，不应用手触摸被检材料的分析面。目的是（）A、防止手被烫伤B、保证分析结果准确C、防止触电D、以上都是
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考题 直读光谱仪分析成分均匀的被检材料，应至少激发测定（）次，取其平均值作为分析结果。A、2次B、3次C、4次D、5次
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考题 DL/T991-2006《电力设备金属光谱分析技术导则》中规定，可以用直读光谱分析法代替普通化学分析法对合金成分进行仲裁。
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考题 用发射光谱进行元素定性分析依据是（）。A、元素的特征谱线是否出现B、元素的特征谱线强度C、元素的含量D、样品的基体成分
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 光谱分析样品的制样要求（）。A、样品相对均匀B、无物理缺陷C、表面新鲜，纹理清晰D、不能过热，不能沾污
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
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考题 近红外光谱分析仪不适合（）分析。A、痕量B、分散性样品C、固体样品D、液体样品
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考题 X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
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考题 食品分析与检验可以分为（）；（）、仪器检验、感官检验。样品的制备的目的是保证样品均匀一致，使样品其中任何部分都能代表被测物料的成分。
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考题 食品检验的基本步骤包括样品的采集，样品的制备和保存，样品预处理（）。A、干法消化、成分分析、数据处理和分析报告的撰写B、湿法消化、成分分析、数据处理和分析报告的撰写C、分析方法的选择，原始数据的记录和分析报告的撰写D、成分分析，数据的处理和分析报告的撰写
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考题 填空题食品分析与检验可以分为物理检验、（）、仪器检验、感官检验。样品的制备的目的是保证样品均匀一致，使样品其中任何部分都能代表被测物料的成分。
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考题 单选题用发射光谱进行元素定性分析依据是（）。A 元素的特征谱线是否出现B 元素的特征谱线强度C 元素的含量D 样品的基体成分
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考题 单选题光谱定量分析时，不应用手触摸被检材料的分析面。目的是（）A 防止手被烫伤B 保证分析结果准确C 防止触电D 以上都是
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考题 判断题直读光谱仪分析成分均匀的被检材料，应至少激发测定2次，取其平均值作为分析结果，分析结果宜用百分含量表示。A 对B 错
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考题 填空题测定（）或微量成分分析的样品，必须使用（）容器。
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