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不影响X荧光分析的主要因素有（）。

  • A、粒度效应
  • B、矿物效应
  • C、基体效应
  • D、光电效应

参考答案

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考题 影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。
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考题 下列属于光学分析仪有（）A、红外分析仪B、X-荧光分析仪C、紫外分析仪D、微量水分析仪
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
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考题 利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
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考题 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
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考题 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
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考题 X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。
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考题 X射线荧光仪可进行（）分析。
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考题 X射线荧光分析法有何特点？
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
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考题 激发光波长对荧光的影响，下列说法正确的是（）。A、影响荧光光谱的形状和荧光的强度B、不影响荧光光谱的形状和荧光的强度C、影响荧光光谱的形状，但并不影响荧光的强度D、不影响荧光光谱的形状，但影响荧光的强度
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考题 X荧光光谱仪脉冲高度分析器有何作用？
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。
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考题 无损伤鉴定宝石气相包裹体成分的方法有：（）.A、电子探针成分分析B、X射线荧光分析C、X射线能谱分析D、激光拉曼光谱分析
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考题 为了区别天然与充胶处理翡翠，可采用宝石学测试方法有：（）A、电子探针     B、X－荧光分析   C、紫外荧光     D、红外光谱
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考题 下列属于电化学分析仪有（）A、红外分析仪B、X-荧光分析仪C、PH计D、微量水分析仪
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法
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考题 问答题X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同？分别有怎样的适用性？
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考题 问答题分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
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考题 判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错
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考题 单选题激发光波长对荧光的影响，下列说法正确的是（）A 影响荧光光谱的形状和荧光的强度B 不影响荧光光谱的形状和荧光的强度C 影响荧光光谱的形状，但并不影响荧光的强度D 不影响荧光光谱的形状，但影响荧光的强度
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