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某高压电气设备测量的介质损耗因数tgδ结果如下:有缺陷部分C1=250PF,tgδ1=5%;良好部分C2=10000PF,tgδ2=0.4%。两部分并联后,整体的tgδ与()接近。

  • A、4%
  • B、2%
  • C、0.5%
  • D、0.25%

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考题 有关Tg的描述错误的是A、血清中的Tg来源于甲状腺组织B、Tg受TSH调节C、Tg的水平与合成Tg细胞分化程度无关D、Tg水平升高提示DTC复发E、血清中Tg抗体的存在可影响Tg的测定结果

考题 在对运行中设备进行介质损失角tgδ测量结果进行分析时,tgδ的绝对值虽符合20℃时标准值,但并不能完全说明该设备的绝缘状况良好。()

考题 击穿强度高,介质损耗因数tgδ小的绝缘油,体积电阻一定小。

考题 某单位欲将功率因数值由cosφ1,提高至cosφ2,则所需装设的补偿电容器应按()式选择A、Qc=P(cosφ1-cosφ2)B、Qc=P(cosφ2-cosφ1)C、Qc=P(tgφ1-tgφ2)D、Qc=P(tgφ2-tgφ1)

考题 当设备各部分的电介质损耗用差较大时,综合的tgδ主要代表并联电介质中的()损耗角正切值。

考题 测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时,同一绕组的套管()。

考题 测量tgδ常用QS1电桥是按()刻度的。A、R4=10000/πΩ tgδ(%)=C4B、R4=1000/πΩ tgδ(%)=C4C、R4=100/πΩ tgδ(%)=C4

考题 若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近A、0.003B、0.005C、0.045D、0.027

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 WLF方程的适用温度范围是:()A、Tg~Tg+5℃B、Tg~Tg+100℃C、Tg+30~Tg+50℃

考题 一个由两部分并联组成的绝缘,其整体的tg∮等于该两部分的tg∮1与之tg∮2和。

考题 耦合电容器的主要参数是()A、标称电容量Cb和绝缘电阻B、介质损耗因数tgδ和额定电压C、标称电容量Cb和介质损耗因数tgδD、标称电容量Cb和高频等效电阻r

考题 某单位欲将功率因数值由COSφ1,提高至COSφ2,则所需装设的补偿电器应按()式选择。A、Qc=P(COSφ1-COSφ2)B、Qc=P(COSφ2-COSφ1)C、Qc=P(tgφ1-tgφ2)D、Qc=P(tgφ2-tgφ1)

考题 介质损耗因数tgδ的含义?

考题 现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。

考题 当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。

考题 测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么?

考题 在一般情况下,介质损耗tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ,对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义?

考题 一个由两部分并联组成的绝缘,其整体的tgδ等于该两部分的tgδ1与tgδ之和

考题 有n个试品的介质损耗因数分别为tgδ1、tgδ2、tgδ3、……、tgδn,若将它们并联在一起测得的总tgδ值必为tgδ1、……、tgδn中的()。A、最大值;B、最小值;C、平均值;D、某介于最大值与最小值之间的值。

考题 若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近。A、0.3%;B、0.5%;C、4.5%;D、2.7%。

考题 用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰,需要先在试验电源正、反相两种极性下,测量两组数据:C1tgδ1、C2tgδ2,然后按公式()计算出试品的实际的tgδ值。A、tgδ=(tgδ1+tgδ2)/2B、tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1-C2)C、tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1+C2)D、tgδ=(C2tgδ1+C1tgδ2)/(C1+C2)

考题 关于电容型电流互感器高压介质损测量,下列说法正确的是()。A、绝缘良好的设备tgδ值不随试验电压的升高而偏大,只在接近额定电压时才略微增加B、绝缘严重受潮的设备在较低的电压下,tgδ值就较大,随着电压的升高tgδ值增大C、发生气隙局放设备达到局放起始放电电压时,tgδ急剧增高D、绝缘中含有离子型杂质的设备,tgδ随电压上升而下降

考题 单选题某高压电气设备测量的介质损耗因数tgδ结果如下:有缺陷部分C1=250PF,tgδ1=5%;良好部分C2=10000PF,tgδ2=0.4%。两部分并联后,整体的tgδ与()接近。A 4%B 2%C 0.5%D 0.25%

考题 判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错

考题 判断题一个由两部分并联组成的绝缘,其整体的tg∮等于该两部分的tg∮1与之tg∮2和。A 对B 错