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在一般情况下,介质损耗tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。


参考答案

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考题 下列缺陷中,介质损耗所不能反映的缺陷是()。 A、绝缘受潮B、绝缘脏污C、绝缘部分击穿D、绝缘中存在气隙放电

考题 电气设备的绝缘性预防性试验包括()。 A.电流介质损耗B.绝缘电阻和吸收比C.交流工频耐压试验D.电流介质损耗

考题 对于套管绝缘,介质损耗测试不仅可以反映套管绝缘的全面情况,而且有时可以检查出其中的集中性缺陷,因此是一项必不可少的有效试验。

考题 J80、介质损失角试验能够反映出变压器绝缘所处的状态,但是( )。(A)对局部缺陷反映灵敏,对整体缺陷反映不灵敏 (B)对整体缺陷反映灵敏,对局部缺陷反映不灵敏 (C)对整体缺陷和局部缺陷反映都灵敏 (D)可能灵敏,可能不灵敏

考题 什么叫介质损耗?为什么说tgδ(δ为介质损耗角)越大,电介质材料的绝缘性能越差?

考题 介质损耗试验主要是检查电气设备对地绝缘状况。

考题 变压器绕组绝缘介质损耗因数与()比较变大或者变小可能是缺陷的反映。

考题 介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。

考题 某高压电气设备测量的介质损耗因数tgδ结果如下:有缺陷部分C1=250PF,tgδ1=5%;良好部分C2=10000PF,tgδ2=0.4%。两部分并联后,整体的tgδ与()接近。A、4%B、2%C、0.5%D、0.25%

考题 当设备各部分的电介质损耗用差较大时,综合的tgδ主要代表并联电介质中的()损耗角正切值。

考题 一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是()A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化

考题 可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小,通过测量介质损耗正切值,可以发现()等绝缘缺陷,是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷

考题 在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,但()A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏

考题 在一般情况下,介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏

考题 在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ,对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义?

考题 若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近。A、0.3%;B、0.5%;C、4.5%;D、2.7%。

考题 为什么说tgδ(δ为介质损耗角)越大,电介质材料的绝缘性能越差?

考题 问答题什么叫介质损耗?为什么说tgδ(δ为介质损耗角)越大,电介质材料的绝缘性能越差?

考题 单选题下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是()。A 整体受潮B 全面老化C 绝缘油脏污劣化D 大容量设备的局部缺陷

考题 判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错

考题 单选题测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

考题 判断题在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错

考题 判断题在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错