考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。
A、0.9μmB、0C、1.8μm
考题
在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。
A、变凹B、变凸C、不变
考题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
考题
板式平焊法兰的密封面形式有()和全平面两种形式。
A、环连接面B、突面C、凹凸面D、榫槽面
考题
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
考题
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
考题
测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
考题
光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。A、大平面B、小平面C、圆柱面D、圆跳动
考题
X射线荧光光谱仪分光方法有（）和（），分别用平晶和弯晶分光。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。A、变凹B、变凸C、不变
考题
填空题谷氨酸的晶型分为（）和（）两种，等电点提取谷氨酸时，首先必须形成一定数量的晶核，然后才能进行育晶。谷氨酸起晶有（）和（）两种方法。
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
判断题刀口尺和量块在平面平晶上可组成标准光隙。A
对B
错
考题
单选题在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（）。A
变凹B
变凸C
不变
考题
填空题用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
考题
填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
判断题平面平晶分为1级、2级、3级。A
对B
错