考题
()被广泛使用在机械密封端面检测上。A.光学平晶B.激光干涉仪C.凹透镜D.凸透镜
考题
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。
A、平B、凸C、凹
考题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
考题
迈克尔逊干涉系统属于空气薄板等厚干涉,只要波长入准确,测量的精度是很高的。()
此题为判断题(对，错)。
考题
平—V—平导轨组合适用于精度较高的大型设备。( )
此题为判断题(对，错)。
考题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
AQG—光学检定器是一种高精度的测量（）的工具，特别适用于煤矿井下的甲烷和（）气体浓度的测量。
考题
（）被广泛使用在机械密封端面检测上。A、光学平晶B、激光干涉仪C、凹透镜D、凸透镜
考题
测量精度要求较高的蜗杆时，可采用齿厚游标卡尺测量
考题
以下列举了几种测量直线度误差的方法。其中，（）最简便实用，适用于小平面或短圆柱面素线的直线度误差测量。A、光学平晶等厚干涉法B、测微法C、激光准值仪法D、光隙法
考题
干涉法是利用光学（）测量表面粗糙度方法。A、干涉原理B、光切原理C、比较方法
考题
光学分度头避免了蜗轮副制造误差对测量结果的影响，所以具有较高（）。A、装配精度B、位置精度C、测量精度D、相对精度
考题
测量精度要求很高的导轨的直线度误差时，宜采用（）。A、研点法B、平尺拉表法C、光学平仪直仪检验法D、框式水平仪检验法
考题
数控机床位置精度的检查应使用（）来检测。A、双频激光干涉仪B、自准直仪C、光学平直仪D、三坐标测量机
考题
为得到较高的测量精度，应选用（）温度计。A、压力B、热电阻C、光学高温
考题
（）可在实验室中用双管显微镜测量，它的测量准确度较高，但它适用对Rz，Ry以及较为规则的表面测量，不适用于测量粗糙度较高的表面及不规则表面。A、光切法B、样板比较法C、干涉法D、触针法
考题
零值法的优点是，测量精度主要取决于读书电桥的精度，而不受电桥供电电压波动以及放大器放大系数波动等的影响，因此测量精度较高。
考题
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
考题
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法
考题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
单选题若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A
平B
凸C
凹
考题
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A
球面干涉B
等厚干涉C
等倾干涉
考题
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A
光波法B
光干涉法C
光条纹法D
干涉条纹法
考题
单选题新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A
技术光波干涉法B
比较法C
光隙法