考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块B、一块C、二块
考题
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。
A、平B、凸C、凹
考题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
考题
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
考题
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A、平B、球C、波形D、倾斜
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A、直线形B、圆形C、平行的弧线D、直线形、圆形和平行的弧线
考题
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
考题
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
考题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
单选题若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A
平B
凸C
凹
考题
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A
平B
球C
波形D
倾斜
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A
直线形B
圆形C
平行的弧线D
直线形、圆形和平行的弧线
考题
单选题千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。A
四块B
一块C
二块
考题
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A
对B
错
考题
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A
平面度B
平行度C
光洁度D
准确度
考题
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A
光波法B
光干涉法C
光条纹法D
干涉条纹法