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对高压电容式绝缘结构的试品,不仅要监测其绝缘介质损耗因数,还要监测其电容量的相对变化。()
参考答案
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考题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
考题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()。A、标准电容器有损耗B、外部电场干扰C、试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响D、空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
考题
判断题智能电力变压器高压套管监测IED。高压套管监测IED主要用以监测高压套管的电容量和介质损耗因数,用以评估高压套管的可靠性状态,其中介质损耗因数采用绝对测量法。A
对B
错
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