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测量介损tgδ和测量绝缘电阻一样,试品的表面泄漏对测量结果有一定影响,并且()。

  • A、试品电容量较大,影响较小
  • B、试品电容量较大,影响较大
  • C、与试品电容量无关

参考答案

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考题 用正接线法测量绝缘介损一定比反接法测量的介损值要大。

考题 试品绝缘表面脏污,受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品介损和电容量测量结果的影响程度是()A、试品电容量越大,影响越大B、试品电容量越小,影响越小C、试品电容量越小,影响越大D、与试品电容量的大小无关

考题 以下不属于隔离开关试验的是()A、耐压试验B、绝缘电阻测量C、介损试验D、回路电阻测量

考题 交流耐压试验前后均应测量被试品的()。A、tgδB、泄漏电流C、绝缘电阻D、极性。

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考题 电缆终端在进行绝缘电阻测量时,空气湿度对测量结果影响不大,其表面泄漏电流的影响及绝缘表面的脏污程度与测量结果无关()。

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考题 试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,描述正确的是()。A、试品电容量越大,对试品tgδ和C测量结果影响越大B、试品电容量越大,对试品tgδ和C测量结果影响越小C、试品电容量大小,对试品tgδ和C测量结果不影响D、以上均不是

考题 变压器要经过()测量合格后,才能进行交流耐压试验。A、绝缘电阻和吸收比B、泄漏电流C、介损D、上述全部项目

考题 试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tgδ和C测量结果的影响程度是()A、试品电容量越大,影响越大B、试品电容量越小,影响越小C、试品电容量越小,影响越大D、与试品电容量的大小无关

考题 避雷器的带电测试是测量避雷器的()。A、介损B、绝缘电阻C、泄漏电流大小D、工频放电电流

考题 交流耐压试验前后均应测量被试品的()A、tgδB、泄漏电流C、绝缘电阻D、击穿电压

考题 油浸式消弧线圈及接地变压器的“预试”项目是()A、绝缘电阻B、绕组直流电阻C、介损测量D、阻抗测量

考题 测量绝缘介质出现负值的主要原因是()A、标准电容有介损且大于被试品的介损B、电场干扰C、空间干扰D、湿度影响

考题 测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时,如试品周围近距离内有大面积接地物体(墙壁、构架、栅栏等),通过()耦合,会影响测量结果的真实性;对大电感试品,应将线圈首尾(),以消除电感、电容对测量准确度的影响。

考题 在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。

考题 用反接线方式,测量一台110kV电流互感器主绝缘介损tgδ,如介损仪本体接地不良,与其介损测量结果无关。

考题 小电容(小于500PF)试品,主要有电容型套管、电容型电流互感器等,对这些试品采用介损仪正、反接线进行测量,测得的介损tgδ值是一样的。

考题 用正接接线方式,测量一台110kV耦合电容器主绝缘介损tgδ,如介损仪的Cx与其耦合电容的末屏(接地小套管)接触不良,影响介损测量结果准确性。

考题 在下列变压器的试验中,不属于绝缘试验的是()。A、绝缘电阻B、介损测量C、泄漏电流D、直阻测量

考题 变电所高压电气设备试验项目包括()A、绝缘电阻的测量B、直流高压试验C、介损tgδ的测定D、交流耐压试验

考题 单选题绝缘电阻试验包括()A 绝缘电阻测量B 吸收比测量C 绝缘电阻测量和吸收比测量D 绝缘电阻测量和泄漏电流测量

考题 单选题试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tgδ和C测量结果的影响程度是()A 试品电容量越大,影响越大B 试品电容量越小,影响越小C 试品电容量越小,影响越大D 与试品电容量的大小无关

考题 单选题试品绝缘表面脏污,受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品介损和电容量测量结果的影响程度是()A 试品电容量越大,影响越大B 试品电容量越小,影响越小C 试品电容量越小,影响越大D 与试品电容量的大小无关

考题 判断题根据测量试品的绝缘电阻,可以初步估计试品的绝缘状况。A 对B 错