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X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,是用高能量X射线轰击材料时激发出的次级X射线进行元素分析检测。


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考题 用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时,激发时间要适当加长。

考题 在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

考题 X射线管中,电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生()A、连续X射线B、标识X射线C、短波X射线D、热

考题 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。

考题 手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能,能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。

考题 手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。

考题 X射线管电子轰击靶时能量转换的主要形式是X射线

考题 X射线管中,电子轰击靶时能量转换最多的是()A、一次X射线B、二次X射线C、短波长X射线D、热量

考题 X射线管中,电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生()A、连续X射线B、标识X射线C、短波长X射线D、热

考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

考题 X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

考题 可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有()。A、硫B、钡C、锂D、铝

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 X射线荧光光谱仪分析原理是什么?

考题 在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

考题 X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

考题 广泛用于炉前快速分析钢中常规五元素的仪器是()。A、光电直读光谱仪B、X射线荧光光谱仪C、红外碳硫测定仪

考题 X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线,一般说来,原级X射线的波长比次级的长。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

考题 X射线管按不同的用途分类为()。A、医学诊断用X射线管、医学治疗用X射线管B、材料分析用X射线管、材料检验用X射线管C、特殊用途X射线管D、A、B和C

考题 判断题用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时,激发时间要适当加长。A 对B 错

考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。A 对B 错

考题 判断题台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。A 对B 错