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X射线荧光光谱法有哪些分析特点和不足？

参考答案和解析
荧光仪产生的一次X射线照射到试样上，产生带有试样所含元素的特征谱线的荧光X射线（二次射线）经入射狭缝、分光晶体分光，出射狭缝，留下某元素特征射线，由探测器进行测定，测出该元素的X射线强度，再由计算机进行强度←→含量曲线数据换算得出试样中该元素的含量。
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