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在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

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考题 简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
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考题 不影响X荧光分析的主要因素有（）。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
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考题 X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 影响X射线强度的主要因素有基体效应、不均匀效应和谱线干扰。
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考题 在原子发射光谱法分析中，选择激发电位相近的分析线对是为了（）A、减少基体效应B、提高激发几率C、消除弧温的影响D、降低光谱背景
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考题 影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。
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考题 简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
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考题 X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
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考题 原子吸收光谱法中的基体效应干扰可用下述哪种方法消除？（）A、加入释放剂B、加入保护剂C、加入缓冲剂D、扣除背景
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考题 背景吸收和基体效应都与试样的基体有关
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
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考题 单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？
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考题 问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 单选题原子吸收光谱法中的基体效应干扰可用下述哪种方法消除？（）A 加入释放剂B 加入保护剂C 加入缓冲剂D 扣除背景
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