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填空题
大晶粒金属零件射线照相探伤，采用（）和（）可减少衍射的影响。

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考题 用射线照相无损探伤的方法有()。 A、α射线B、γ射线C、β射线D、X射线
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考题 金属塑性一般受金属晶粒影响，晶粒大，塑性差，晶粒小，塑性好。此题为判断题(对，错)。
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考题 锻件检测一般不采用射线照相法的原因是（）A、大多数锻件厚度较大，射线难以穿透B、锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C、大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D、以上A和B
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考题 金属塑性一般受金属晶粒影响，晶粒大，塑性差。（）
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考题 金属塑性一般受金属晶粒影响，晶粒大，塑性差，晶粒小，塑性好。（）
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考题 对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用荧光增感屏。
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考题 X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（）状影像。
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考题 大晶粒金属零件进行射线照相时，利用（）可以减少或消除衍射斑的影响。
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考题 晶粒较粗大的材料，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹。
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考题 对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用铅箔增感屏。
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考题 对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用铅箔增感屏。
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考题 检验金属材料零件表面上的缺陷（如裂纹）通常采用（）。A、X射线探伤B、超声波探伤C、磁粉探伤D、涡流探伤
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考题 着色探伤和磁粉探伤主要检查金属（）缺陷，射线探伤和超声波探伤检查金属（）缺陷。
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考题 大晶粒金属零件射线照相时，用什么方法可以减轻衍射斑点的影响？（）A、提高管电压并使用荧光增感屏B、降低管电压并使用铅箔增感屏C、提高管电压并使用铅箔增感屏D、降低管电压并使用荧光增感屏
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考题 大晶粒金属零件进行射线照相时，利用提高管电压和使用铅增感屏可以（）。A、增大衍射斑的影响B、减少或消除衍射斑的影响C、增大焦距的影响D、以上任何一种
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考题 大晶粒金属零件射线照相探伤，采用（）和（）可减少衍射的影响。
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考题 探伤不锈钢零件表面缺陷最好采用（）探伤法。A、射线照相B、磁粉探伤法C、超声波直探头D、渗透探伤法E、涡流探伤法
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考题 荧光探伤的方法可适用于任何金属和非金属零件。
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考题 在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。
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考题 X射线在大晶粒材料中会发生衍射现象引起（），使射线照片出现（）。
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考题 单选题大晶粒金属零件射线照相时，用什么方法可以减轻衍射斑点的影响？（）A 提高管电压并使用荧光增感屏B 降低管电压并使用铅箔增感屏C 提高管电压并使用铅箔增感屏D 降低管电压并使用荧光增感屏
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考题 单选题X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使（）A 衍射峰变强B 衍射峰变弱C 衍射峰变宽D 衍射峰变窄
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考题 填空题宏观应力是（），它能引起衍射线位移；微观应力是少数晶粒或若干原子范围内存在保持平衡的应力，它能引起衍射线（）或者（）。
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考题 填空题X射线在大晶粒材料中会发生衍射现象引起（），使射线照片出现（）。
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考题 单选题洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（）A 晶粒大小对衍射强度的影响B 参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C 衍射线位置对衍射强度的影响D 试样形状对衍射强度的影响
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考题 单选题探伤不锈钢零件表面缺陷最好采用（）探伤法。A 射线照相B 磁粉探伤法C 超声波直探头D 渗透探伤法E 涡流探伤法
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考题 单选题锻件检测一般不采用射线照相法的原因是（）A 大多数锻件厚度较大，射线难以穿透B 锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C 大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D 以上A和B
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